Sakurai, T., & Watanabe, Y. (2000). Advances in Scanning Probe Microscopy. Springer Berlin Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-56949-4
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Sakurai, Toshio, und Yousuke Watanabe. Advances in Scanning Probe Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2000. https://doi.org/10.1007/978-3-642-56949-4.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Sakurai, Toshio, und Yousuke Watanabe. Advances in Scanning Probe Microscopy. Springer Berlin Heidelberg, 2000. https://doi.org/10.1007/978-3-642-56949-4.
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