APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. M. (2003). Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Springer US. https://doi.org/10.1007/b105922

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Nicolici, Nicola, und Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston, MA: Springer US, 2003. https://doi.org/10.1007/b105922.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

Nicolici, Nicola, und Bashir M. Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Springer US, 2003. https://doi.org/10.1007/b105922.