Hönicke, P. (2016). Charakterisierung nanoskaliger Schichtstapel durch eine Kombination aus referenzprobenfreier Röntgenspektroskopie unter streifendem Einfall und der Röntgenreflektometrie. https://doi.org/10.14279/depositonce-5649
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hönicke, Philipp. Charakterisierung Nanoskaliger Schichtstapel Durch Eine Kombination Aus Referenzprobenfreier Röntgenspektroskopie Unter Streifendem Einfall Und Der Röntgenreflektometrie. Berlin, 2016. https://doi.org/10.14279/depositonce-5649.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hönicke, Philipp. Charakterisierung Nanoskaliger Schichtstapel Durch Eine Kombination Aus Referenzprobenfreier Röntgenspektroskopie Unter Streifendem Einfall Und Der Röntgenreflektometrie. 2016. https://doi.org/10.14279/depositonce-5649.
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