(2006). VLSI test principles and architectures: Design for testability. Elsevier Morgan Kaufmann Publishers.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Amsterdam: Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, 2006.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, 2006.
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