Stochastic models in reliability:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Aven, T. (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Springer c1999
Schriftenreihe:Applications of mathematics 41
Schlagworte:
Beschreibung:xii, 270 p
ISBN:0387986332

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