(2008). Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices. World Scientific Pub. Co.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. Singapore: World Scientific Pub. Co, 2008.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. World Scientific Pub. Co, 2008.
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