Eignungsnachweis von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld
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Bibliographic Details
Main Authors: Dietrich, Edgar 1951- (Author), Schulze, Alfred 1952- (Author)
Format: Electronic eBook
Language:German
Published: München Hanser [2017]
Edition:5., überarbeitete Auflage
Subjects:
Online Access:BHS01
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FWS02
UBT01
UEI03
UER01
Volltext
Physical Description:1 Online-Ressource (656 Seiten) Illustrationen, Diagramme
ISBN:9783446451711
DOI:10.3139/9783446451711