Holdings: Untersuchungen zum Bildungs- und Wachstumsmechanismus von mehrphasigen Chrom-Carbidschichten im Pulververfahren auf Stahl

Untersuchungen zum Bildungs- und Wachstumsmechanismus von mehrphasigen Chrom-Carbidschichten im Pulververfahren auf Stahl:

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Bibliographic Details
Main Author:	Pintoiu, Stefan 1952- (Author)
Format:	Thesis Book
Language:	German
Published:	München Herbert Utz Verlag 2017
Series:	Werkstoffwissenschaften
Subjects:	Diffusionsschicht Chromcarbide Diffusionsverfahren > Beschichten Zusammensetzung Probekörper > Werkstoffprüfung Eigenspannung Schichtwachstum Verschleißfestigkeit Inchromieren Stahl Chromdiffusionsreaktion Thermodynamik Rasterelektronenmikroskopie Phasenanalyse Eigenspannungsanalyse Lichtmikroskopie Glimmentladungsspektroskopie Hochschulschrift
Online Access:	Inhaltstext Inhaltsverzeichnis
Physical Description:	260 Seiten Illustrationen, Diagramme 20.5 cm x 14.5 cm, 376 g
ISBN:	9783831646524 383164652X

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adam_text	INHALTSVERZEICHNIS 1 EINLEITUNG UND ZIELSETZUNG . 13 2 STAND DER TECHNIK . 15 2.1 AUFBAU VON CHROMIERSCHICHTEN . 15 2.2 THERMODYNAMIK DER CHROMDIFFUSIONSREAKTION . 20 2.3 EINFLUSS DER STAHLZUSAMMENSETZUNG BEIM CHROMIEREN . 24 2.4 MECHANISCHE EIGENSCHAFTEN . 25 2.4.1 HAFTFESTIGKEIT . 26 2.4.2 HAERTE, ZAEHIGKEIT . 26 2.4.3 ELASTIZITAETSMODUL . 26 2.5 KORROSIONSEIGENSCHAFTEN VON CHROMIERSCHICHTEN . 27 2.6 PHASENDIAGRAMME . 27 2. 7 KRISTALLSTRUKTUREN, NETZEBENENABSTAENDE UND GITTERPARAMETER . 31 3 EXPERIMENTELLE UNTERSUCHUNGEN . 39 3.1 EINGESETZTE WERKSTOFFE UND PROBENFORMEN . 39 3.2 CHROMIERPROZESS . 40 3.3 UNTERSUCHUNGSMETHODEN . 42 3.3.1 METALLOGRAPHISCHE UNTERSUCHUNGEN . 42 3. 3. 2 RASTERELEKTRONENMIKROSKOPISCHE (REM / EDX) UNTERSUCHUNGEN . ; . 43 3.3.3 HAERTEMESSUNGEN . 44 3.3.4 ROENTGENBEUGUNGSUNTERSUCHUNGEN ZUR PHASENANALYSE . 44 3.3.5 EIGENSPANNUNGSANALYSE . 48 3. 3. 6 MESSUNG DER KONZENTRATIONSPROFILE - GDOS- UNTERSUCHUNG . 53 3. 3. 7 UNTERSUCHUNGEN MITTELS ELEKTRONENSTRAHL- MIKROSONDE . 54 3.3.8 MIKROBEUGUNGSUNTERSUCHUNGEN . 55 3.3.9 RAUHEITS-UNTERSUCHUNGEN . 56 4 VERSUCHSERGEBNISSE . 57 4.1 BEHANDLUNGSDAUER 1,5 H . 58 4.1.1 LICHTMIKROSKOPISCHE UNTERSUCHUNGEN . 58 4.1. 2 RASTERELEKTRONENMIKROSKOPISCHE UNTERSUCHUNGEN 61 4.1. 3 ROENTGENOGRAPHISCHE PHASENANALYSE ZUR CHARAKTERISIERUNG DER CHROMCARBIDSCHICHTEN AN RUNDPROBEN BEI EINER CHROMIERZEIT VON 1,5 H . 66 4. 2 BEHANDLUNGSDAUER 3,0 H: LICHTMIKROSKOPISCHE UNTERSUCHUNGEN . 74 4. 3 BEHANDLUNGSDAUER 5,0 H: LICHTMIKROSKOPISCHE UNTERSUCHUNG . 77 4.4 BEHANDLUNGSDAUER 7,0 H: LICHTMIKROSKOPISCHE UNTERSUCHUNG . 79 4. 5 PHASENWACHSTUM AN CHROMIERTEN RUNDPROBEN WAEHREND DES DYNAMISCHEN UND STATISCHEN PROZESSES . 81 4.5.1 DYNAMISCHES VERFAHREN . 81 4.5.2 STATISCHES VERFAHREN . 85 4.6 EIGENSPANNUNGSANALYSE DER CHROMCARBIDSCHICHTEN . 89 4.7 GDOS-TIEFENPROFILANALYSE . 92 4.7.1 TIEFENPROFILANALYSEN NACH 1,5 H BEHANDLUNG . 94 4.7.2 TIEFENPROFILANALYSEN NACH 3,0 H BEHANDLUNG . 96 4. 7. 3 TIEFENPROFILANALYSEN NACH 5,0 H BEHANDLUNG . 99 4.7.4 TIEFENPROFILANALYSEN NACH 7,0 H BEHANDLUNG . 101 4. 8 WACHSTUMSRICHTUNG DER CHROMCARBIDSCHICHTEN . 104 5 SCHLUSSFOLGERUNG AUS DEN EXPERIMENTEN . 107 5.1 SCHICHTWACHSTUM IN DER ANFANGSPHASE UND SCHICHTAUFBAU BEIM CHROMIEREN . 107 5. 2 SCHICHTWACHSTUM UND SCHICHTKONFIGURATION IN ABHAENGIGKEIT VON CHROMIERDAUER . 108 6 FEHLER BEI DER BILDUNG DER CHROMCARBIDSCHICHTEN . 117 6.1 UNVOLLSTAENDIGE BILDUNG DER CHROMCARBIDSCHICHTEN - HELL GLAENZENDE FLECKEN . 117 6.1.1 MIKROSKOPISCHE UNTERSUCHUNG . 118 6.1. 2 UNTERSUCHUNGEN MITTELS ELEKTRONENSTRAHL- MIKROANALYSE UND ANALYTISCHER RASTERELEKTRONEN- MIKROSKOPIE . 120 6.1. 3 ROENTGENOGRAPHISCHE PHASENANALYSE MIT HOHER LOKALER AUFLOESUNG . 128 6.1.4 GDOS-UNTERSUCHUNG DER FEHLERHAFTEN SCHICHTEN . 133 6.1.5 RAUHEITSMESSUNG . 140 6.1. 6 HAERTEPRUEFUNG DER CHROMCARBIDSCHICHTEN IM NANOBEREICH . 145 6.1. 7 DISKUSSION DER UNTERSUCHUNGSERGEBNISSE UND URSACHEN FUER SCHICHTBILDUNGSFEHLER . 149 6.1. 8 MASSNAHMEN ZUR VERMEIDUNG DES FEHLERS *UNVOLLSTAENDIGE SCHICHTBILDUNG" . 151 6. 2 TRENNMITTELEINLAGERUNGEN IN DER CHROMCARBIDSCHICHT _ 151 6. 2.1 ERSCHEINUNGSFORM UND URSACHEN . 151 6. 2. 2 MASSNAHMEN ZUR VERMEIDUNG VON TRENNMITTELEINLAGERUNGEN . 154 6. 3 ANSINTERUNGEN VON FERROCHROMPARTIKELN AUF CHROMCARBIDSCHICHTEN . 154 6. 3.1 ERSCHEINUNGSFORM UND URSACHEN . 154 6. 3. 2 MASSNAHMEN ZUR VERMEIDUNG VON ANSINTERUNGEN 159 6.4 UMWANDLUNGEN DER CHROMCARBIDSCHICHTEN UNTER EINFLUSS DES HAERTEMEDIUMS . 159 6.4.1 ERSCHEINUNGSFORM UND URSACHEN . 159 6.4. 2 MASSNAHMEN ZUR VERMEIDUNG DER FEHLER . 168 6. 5 MECHANISCHE ABPLATZUNGEN DER CARBIDSCHICHTEN . 169 6. 5.1 ERSCHEINUNGSFORM UND URSACHEN . 169 6. 5. 2 MASSNAHMEN ZUR VERMEIDUNG VON ABPLATZUNGEN 171 7 ZUSAMMENFASSUNG . 173 8 LITERATURVERZEICHNIS . 179 9 ABBILDUNGSVERZEICHNIS . 183 10 TABELLENVERZEICHNIS . 189 11 ANHANG . 191 11.1 ANHANG 1 191 11.1.1 SCHICHTWACHSTUM DER CHROMCARBIDE AUF RUNDPROBEN NACH 1,5; 3,0; 5,0 UND 7 H . 191 11.1. 2 SCHICHTWACHSTUM DER CHROMCARBIDE AUF FLACHPROBEN NACH 1,5; 3,0; 5,0 UND 7 H . 194 11.2 ANHANG 2 197 11. 2.1 SCHICHTDICKENMESSUNGEN AN RUNDPROBEN . 197 11. 2. 2 SCHICHTDICKENMESSUNGEN AN FLACHPROBEN . 206 11.3 ANHANG 3 . 215 11. 3.1 EDX-SPEKTREN AUF RUNDPROBEN AUS 51CRV4 NACH 1,5H BEHANDLUNG . 215 11. 3. 2 EDX-SPEKTREN AUF RUNDPROBEN AUS 61CRSIV5 NACH 1,5H BEHANDLUNG . 218 11. 3. 3 EDX-SPEKTREN AUF RUNDPROBEN AUS C60E NACH 1,5H BEHANDLUNG . 221 11.4 ANHANG 4 224 11.4.1 RASTERELEKTRONISCHE AUFNAHMEN DER CHROMCARBIDSCHICHTEN NACH 3 H BEHANDLUNG . 224 11.5 ANHANG 5 226 11. 5.1 GDOS-TIEFENPROFILANALYSEN AN CHROMIERTEN FLACHPROBEN . 226 11.6 ANHANG 6 242 11.6.1 GDOS-TIEFENPROFILVERGLEICHE . 242
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