Möglichkeiten moderner Materialanalytik für die Untersuchung von Hinterglasbildern:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Stege, Heike (VerfasserIn), Hahn, Oliver (VerfasserIn)
Format: Artikel
Sprache:German
Veröffentlicht: 2017
Schlagworte:
ISBN:978-3-86832-309-2

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!