Nicolici, N. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer Academic Publishers.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Nicolici, Nicola. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer Academic Publishers, 2003.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Nicolici, Nicola. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer Academic Publishers, 2003.
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