Abscheidung und Charakterisierung von DLC-Schichten mittels IC-PECVD-Verfahren auf Siliziumwafern:

Physikalische Technik

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Bibliographic Details
Main Author: Schlößer, Alexander (Author)
Format: Thesis Book
Language:German
Published: Wildau TH 2015
Subjects:
Summary:Physikalische Technik
Item Description:unbefristet gesperrt
Physical Description:VI, 60, XVI S. Ill., graph. Darst. 1 CD-ROM

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