Optische Schichtdickenmessung mit miniaturisierten Spektrometern:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Quinten, Michael (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Norderstedt Books on Demand 2015
Ausgabe:1. Aufl.
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltstext
Beschreibung:184 S. 2 farb. Ill. 297 mm x 210 mm, 548 g
ISBN:9783734783869
3734783860

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