5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013: normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013
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Düsseldorf
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THWS Schweinfurt Magazin
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