Untersuchung der Oberflächen- und Innen-Struktur von Lackschichten mit dem Elektronenmikroskop:
Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Hamann, Karl 1906-1994 (Author)
Format: Electronic eBook
Language:German
Published: Wiesbaden VS Verlag für Sozialwissenschaften 1972
Series:Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen 2248
Subjects:
Online Access:FLA01
Volltext
Item Description:Die Untersuchung der Innen- und Oberflächen-Struktur von Lackfilmen erfordert in der Regel die Anwendung des Elektronenmikroskops, da dieses Gerät ein für die einwandfreie Beobachtung der Pigment- und Füllstoffpartikel ausreichendes Auflösungsvermögen sowie eine genügende Schärfentiefe aufweist. Ein bewährtes Untersuchungsverfahren für Oberflächen, aber auch für Bruchflächen von Lackfilmen, welche dann die Innenstruktur erkennen lassen, besteht in der zweistufigen Abdrucktechnik. Die fortlaufende Beobachtung von Veränderungen an definierten Stellen der Oberfläche ermöglicht die Beobachtung erster Filmabbau-Erscheinungen, wie sie bei Bewitterungsvorgängen eintreten. Die Untersuchung der Bruchflächenstruktur pigmentierter Lackfilme liefert qualitative Angaben über die Festigkeit der Bindung zwischen den Pigment-Partikeln und dem umgebenden Bindemittel. Durch Anwendung eines schonend wirkenden und fein dosierbaren Ätzverfahrens, der Ionenätzung, gelingt es, besondere Merkmale der Innenstruktur in den Bruchflächen sichtbar zu machen. Derartigen Aufnahmen lassen sich Hinweise auf den Filmbildungs-Vorgang entnehmen. In pigmentfreien Filmen ermöglicht die elektronenmikroskopische Untersuchung vor allem die Feststellung typischer Inhomogenitäten. Bei der Verwendung von geeigneten Lösungsmittelgemischen für das Bindemittel erheben sich durch Phasentrennungsvorgänge bei der Filmbildung relativ porös aufgebaute Filme. Die Größenverteilung und typischen Formen der Hohlräume
Physical Description:1 Online-Ressource (36 S.)
ISBN:9783322882431
9783531022482
DOI:10.1007/978-3-322-88243-1

There is no print copy available.

Interlibrary loan Place Request Caution: Not in THWS collection! Get full text