Einfluß von Versetzungen auf die elektrolytische Auflösung von Kupfereinkristallen:
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Bibliographic Details
Main Author: Lücke, Kurt 1921-2001 (Author)
Format: Electronic eBook
Language:German
Published: Wiesbaden VS Verlag für Sozialwissenschaften 1974
Series:Forschungsberichte des Landes Nordhein-Westfalen 2245
Subjects:
Online Access:FLA01
Volltext
Item Description:Der Einfluß von Versetzungen in Kristallen auf deren Auflösung ist seit langem Thema vieler theoretischer und experimenteller Untersuchungen. Die Bedeutung dieses Problems reicht von technischen Fragen wie Korrosion, Katalyse und Schichtwachstum in der Galvano- und Aufdampftechnik bis zu dem wissenschaftlichen Aspekt, die Eigenschaften und Wirkungen der Versetzungen auch in dieser Hinsicht grundsätzlich kennenzulernen. Ebenso ist eine bessere Kenntnis auf diesem Gebiet für das häufig angewandte, empirisch entwickelte Verfahren der Versetzungsatzung wichtig, und zwar im Zusammenhang mit der Beurteilung der Zuverlässigkeit und Anwendbarkeit dieser Methode sowie ihrer systematischen Ausweitung auf weitere Materialien. Experimentelle und theoretische Untersuchungen zu diesem Thema wurden bislang überwiegend an Hand der Bildung sichtbarer Ätzgruben durchgeführte Verfahren zu deren Erzeugung sind für viele Metalle und Nichtmetalle bekannt [1 - 5] . Die Möglichkeit der Bildung sichtbarer Ätzgruben an den Endpunkten von Versetzungslinien beweist eindeutig, daß ein örtlich begrenzter Einfluß der Versetzungen auf den Kristallabbau auftreten kann. Der Mechanismus dieses Vorganges kann bei Schraubenversetzungen 1) qualitativ auf das Frank'sche Spiralmodell [6] zurückgeführt werden, quantitative Ansätze dazu wurden von Burton, Cabrera und Frank [7], Cabrera und Levine [8] sowie von Nenow [9] entwickelt. Derartige Spiralen konnten mehrfach nachgewiesen werden (siehe z. B. [10]). Fraglich ist jedoch, ob dieser Mechanismus - vor allem bei Metallen - zu sichtbaren Ätzgruben führen kann [ 11]
Physical Description:1 Online-Ressource (61S.)
ISBN:9783322880680
9783531022451
DOI:10.1007/978-3-322-88068-0

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