Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique: Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Berlin, Heidelberg
Springer Berlin Heidelberg
1960
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext |
| Beschreibung: | Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro· skopie, der unter den Auspizien der International Federation 0/ Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmaß die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 Vorträge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als 1000 Teilnehmern aus 26 Ländern gehalten, waren zu veröffentlichen, wenn wir der Tradition der früheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht möglich, alle auf einem Internationalen Kongreß für Elektronenmikroskopie gehaltenen Vorträge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enthält sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Geräte, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek· tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein· schließlich der Präparationstechnik. Der 11. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des Elektronenmikroskops zur Lösung biologischer und medizinischer Fragestellungen und über die entsprechenden Prä parationsverfahren. In Abweichung von der Reihenfolge, in der die Vorträge auf dem Kongreß gehalten wurden, waren wir bemüht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehöriger Themen zu ermöglichen. Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden Bänden beigefügt sind, vermitteln eine ausreichende Über. sicht. Jeder Band enthält ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis. Die Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, die veranstaltende Organisation, begrüßte mit dankbarer Anerkennung, daß der Springer |
| Beschreibung: | 1 Online-Ressource (851S.) |
| ISBN: | 9783642497650 9783642494819 |
| DOI: | 10.1007/978-3-642-49765-0 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nmm a2200000zc 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV042445401 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | cr|uuu---uuuuu | ||
| 008 | 150324s1960 |||| o||u| ||||||ger d | ||
| 020 | |a 9783642497650 |c Online |9 978-3-642-49765-0 | ||
| 020 | |a 9783642494819 |c Print |9 978-3-642-49481-9 | ||
| 024 | 7 | |a 10.1007/978-3-642-49765-0 |2 doi | |
| 035 | |a (OCoLC)907080011 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV042445401 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e aacr | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-91 |a DE-634 |a DE-92 |a DE-706 | ||
| 082 | 0 | |a 530 |2 23 | |
| 084 | |a NAT 000 |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Bargmann, W. |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique |b Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil |c herausgegeben von W. Bargmann, G. Möllenstedt, H. Niehrs, D. Peters, E. Ruska, C. Wolpers |
| 264 | 1 | |a Berlin, Heidelberg |b Springer Berlin Heidelberg |c 1960 | |
| 300 | |a 1 Online-Ressource (851S.) | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b c |2 rdamedia | ||
| 338 | |b cr |2 rdacarrier | ||
| 500 | |a Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro· skopie, der unter den Auspizien der International Federation 0/ Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmaß die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 Vorträge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als 1000 Teilnehmern aus 26 Ländern gehalten, waren zu veröffentlichen, wenn wir der Tradition der früheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht möglich, alle auf einem Internationalen Kongreß für Elektronenmikroskopie gehaltenen Vorträge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enthält sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Geräte, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek· tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein· schließlich der Präparationstechnik. Der 11. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des Elektronenmikroskops zur Lösung biologischer und medizinischer Fragestellungen und über die entsprechenden Prä parationsverfahren. In Abweichung von der Reihenfolge, in der die Vorträge auf dem Kongreß gehalten wurden, waren wir bemüht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehöriger Themen zu ermöglichen. Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden Bänden beigefügt sind, vermitteln eine ausreichende Über. sicht. Jeder Band enthält ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis. Die Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, die veranstaltende Organisation, begrüßte mit dankbarer Anerkennung, daß der Springer | ||
| 650 | 4 | |a Physics | |
| 650 | 4 | |a Physics, general | |
| 700 | 1 | |a Möllenstedt, G. |e Sonstige |4 oth | |
| 700 | 1 | |a Niehrs, H. |e Sonstige |4 oth | |
| 700 | 1 | |a Peters, D. |e Sonstige |4 oth | |
| 700 | 1 | |a Ruska, E. |e Sonstige |4 oth | |
| 700 | 1 | |a Wolpers, C. |e Sonstige |4 oth | |
| 856 | 4 | 0 | |u https://doi.org/10.1007/978-3-642-49765-0 |x Verlag |3 Volltext |
| 912 | |a ZDB-2-SNA |a ZDB-2-BAD | ||
| 940 | 1 | |q ZDB-2-SNA_Archive | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027880648 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804153141605695488 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Bargmann, W. |
| author_facet | Bargmann, W. |
| author_role | aut |
| author_sort | Bargmann, W. |
| author_variant | w b wb |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV042445401 |
| classification_tum | NAT 000 |
| collection | ZDB-2-SNA ZDB-2-BAD |
| ctrlnum | (OCoLC)907080011 (DE-599)BVBBV042445401 |
| dewey-full | 530 |
| dewey-hundreds | 500 - Natural sciences and mathematics |
| dewey-ones | 530 - Physics |
| dewey-raw | 530 |
| dewey-search | 530 |
| dewey-sort | 3530 |
| dewey-tens | 530 - Physics |
| discipline | Physik Allgemeine Naturwissenschaft |
| doi_str_mv | 10.1007/978-3-642-49765-0 |
| format | Electronic eBook |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>03583nmm a2200433zc 4500</leader><controlfield tag="001">BV042445401</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">cr|uuu---uuuuu</controlfield><controlfield tag="008">150324s1960 |||| o||u| ||||||ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783642497650</subfield><subfield code="c">Online</subfield><subfield code="9">978-3-642-49765-0</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783642494819</subfield><subfield code="c">Print</subfield><subfield code="9">978-3-642-49481-9</subfield></datafield><datafield tag="024" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">10.1007/978-3-642-49765-0</subfield><subfield code="2">doi</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)907080011</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV042445401</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">aacr</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-634</subfield><subfield code="a">DE-92</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">530</subfield><subfield code="2">23</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">NAT 000</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Bargmann, W.</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique</subfield><subfield code="b">Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil</subfield><subfield code="c">herausgegeben von W. Bargmann, G. Möllenstedt, H. Niehrs, D. Peters, E. Ruska, C. Wolpers</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Berlin, Heidelberg</subfield><subfield code="b">Springer Berlin Heidelberg</subfield><subfield code="c">1960</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1 Online-Ressource (851S.)</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">c</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">cr</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro· skopie, der unter den Auspizien der International Federation 0/ Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmaß die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 Vorträge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als 1000 Teilnehmern aus 26 Ländern gehalten, waren zu veröffentlichen, wenn wir der Tradition der früheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht möglich, alle auf einem Internationalen Kongreß für Elektronenmikroskopie gehaltenen Vorträge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enthält sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Geräte, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek· tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein· schließlich der Präparationstechnik. Der 11. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des Elektronenmikroskops zur Lösung biologischer und medizinischer Fragestellungen und über die entsprechenden Prä parationsverfahren. In Abweichung von der Reihenfolge, in der die Vorträge auf dem Kongreß gehalten wurden, waren wir bemüht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehöriger Themen zu ermöglichen. Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden Bänden beigefügt sind, vermitteln eine ausreichende Über. sicht. Jeder Band enthält ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis. Die Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, die veranstaltende Organisation, begrüßte mit dankbarer Anerkennung, daß der Springer</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Physics</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Physics, general</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Möllenstedt, G.</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Niehrs, H.</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Peters, D.</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Ruska, E.</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Wolpers, C.</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="0"><subfield code="u">https://doi.org/10.1007/978-3-642-49765-0</subfield><subfield code="x">Verlag</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZDB-2-SNA</subfield><subfield code="a">ZDB-2-BAD</subfield></datafield><datafield tag="940" ind1="1" ind2=" "><subfield code="q">ZDB-2-SNA_Archive</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027880648</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV042445401 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-10T01:21:53Z |
| institution | BVB |
| isbn | 9783642497650 9783642494819 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027880648 |
| oclc_num | 907080011 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-634 DE-92 DE-706 |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-634 DE-92 DE-706 |
| physical | 1 Online-Ressource (851S.) |
| psigel | ZDB-2-SNA ZDB-2-BAD ZDB-2-SNA_Archive |
| publishDate | 1960 |
| publishDateSearch | 1960 |
| publishDateSort | 1960 |
| publisher | Springer Berlin Heidelberg |
| record_format | marc |
| spelling | Bargmann, W. Verfasser aut Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil herausgegeben von W. Bargmann, G. Möllenstedt, H. Niehrs, D. Peters, E. Ruska, C. Wolpers Berlin, Heidelberg Springer Berlin Heidelberg 1960 1 Online-Ressource (851S.) txt rdacontent c rdamedia cr rdacarrier Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro· skopie, der unter den Auspizien der International Federation 0/ Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmaß die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 Vorträge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als 1000 Teilnehmern aus 26 Ländern gehalten, waren zu veröffentlichen, wenn wir der Tradition der früheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht möglich, alle auf einem Internationalen Kongreß für Elektronenmikroskopie gehaltenen Vorträge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enthält sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Geräte, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek· tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein· schließlich der Präparationstechnik. Der 11. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des Elektronenmikroskops zur Lösung biologischer und medizinischer Fragestellungen und über die entsprechenden Prä parationsverfahren. In Abweichung von der Reihenfolge, in der die Vorträge auf dem Kongreß gehalten wurden, waren wir bemüht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehöriger Themen zu ermöglichen. Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden Bänden beigefügt sind, vermitteln eine ausreichende Über. sicht. Jeder Band enthält ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis. Die Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, die veranstaltende Organisation, begrüßte mit dankbarer Anerkennung, daß der Springer Physics Physics, general Möllenstedt, G. Sonstige oth Niehrs, H. Sonstige oth Peters, D. Sonstige oth Ruska, E. Sonstige oth Wolpers, C. Sonstige oth https://doi.org/10.1007/978-3-642-49765-0 Verlag Volltext |
| spellingShingle | Bargmann, W. Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil Physics Physics, general |
| title | Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil |
| title_auth | Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil |
| title_exact_search | Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil |
| title_full | Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil herausgegeben von W. Bargmann, G. Möllenstedt, H. Niehrs, D. Peters, E. Ruska, C. Wolpers |
| title_fullStr | Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil herausgegeben von W. Bargmann, G. Möllenstedt, H. Niehrs, D. Peters, E. Ruska, C. Wolpers |
| title_full_unstemmed | Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil herausgegeben von W. Bargmann, G. Möllenstedt, H. Niehrs, D. Peters, E. Ruska, C. Wolpers |
| title_short | Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique |
| title_sort | vierter internationaler kongress fur elektronenmikroskopie fourth international conference on electron microscopy quatrieme congres international de microscopie electronique verhandlungen band i physikalisch technischer teil |
| title_sub | Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil |
| topic | Physics Physics, general |
| topic_facet | Physics Physics, general |
| url | https://doi.org/10.1007/978-3-642-49765-0 |
| work_keys_str_mv | AT bargmannw vierterinternationalerkongressfurelektronenmikroskopiefourthinternationalconferenceonelectronmicroscopyquatriemecongresinternationaldemicroscopieelectroniqueverhandlungenbandiphysikalischtechnischerteil AT mollenstedtg vierterinternationalerkongressfurelektronenmikroskopiefourthinternationalconferenceonelectronmicroscopyquatriemecongresinternationaldemicroscopieelectroniqueverhandlungenbandiphysikalischtechnischerteil AT niehrsh vierterinternationalerkongressfurelektronenmikroskopiefourthinternationalconferenceonelectronmicroscopyquatriemecongresinternationaldemicroscopieelectroniqueverhandlungenbandiphysikalischtechnischerteil AT petersd vierterinternationalerkongressfurelektronenmikroskopiefourthinternationalconferenceonelectronmicroscopyquatriemecongresinternationaldemicroscopieelectroniqueverhandlungenbandiphysikalischtechnischerteil AT ruskae vierterinternationalerkongressfurelektronenmikroskopiefourthinternationalconferenceonelectronmicroscopyquatriemecongresinternationaldemicroscopieelectroniqueverhandlungenbandiphysikalischtechnischerteil AT wolpersc vierterinternationalerkongressfurelektronenmikroskopiefourthinternationalconferenceonelectronmicroscopyquatriemecongresinternationaldemicroscopieelectroniqueverhandlungenbandiphysikalischtechnischerteil |