Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Wiesbaden
Vieweg+Teubner Verlag
1988
|
| Schriftenreihe: | Leitfäden und Monographien der Informatik
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext |
| Beschreibung: | Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs- und Herstellungsablauf digitaler Schaltungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer entworfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufgabenstellung gilt gleichermaßen für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei größeren integrierten Schaltungen fast zwangsläufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test häufig nicht oder nur mit größeren Schwierigkeiten durchzuführen ist. Das liegt an der "Zugänglichkeit" integrierter Schaltungen, die durch die Anzahl externer Anschlüsse beschränkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum angeordnet, d.h. daß die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ansätze, die von hierarchisch höheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das für die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch für den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexität der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, daß man hierarchische Methoden für deren Prüfung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prüfen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung |
| Beschreibung: | 1 Online-Ressource (229 S.) |
| ISBN: | 9783322966650 9783519022633 |
| DOI: | 10.1007/978-3-322-96665-0 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nmm a2200000zc 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV042431135 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20180214 | ||
| 007 | cr|uuu---uuuuu | ||
| 008 | 150320s1988 |||| o||u| ||||||ger d | ||
| 020 | |a 9783322966650 |c Online |9 978-3-322-96665-0 | ||
| 020 | |a 9783519022633 |c Print |9 978-3-519-02263-3 | ||
| 024 | 7 | |a 10.1007/978-3-322-96665-0 |2 doi | |
| 035 | |a (OCoLC)863869459 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV042431135 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e aacr | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-91 |a DE-634 |a DE-92 |a DE-573 |a DE-706 |a DE-1046 |a DE-1047 | ||
| 082 | 0 | |a 620 |2 23 | |
| 084 | |a TEC 000 |2 stub | ||
| 084 | |a DAT 000 |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Wojtkowiak, Hans |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen |c von Hans Wojtkowiak |
| 264 | 1 | |a Wiesbaden |b Vieweg+Teubner Verlag |c 1988 | |
| 300 | |a 1 Online-Ressource (229 S.) | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b c |2 rdamedia | ||
| 338 | |b cr |2 rdacarrier | ||
| 490 | 0 | |a Leitfäden und Monographien der Informatik | |
| 500 | |a Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs- und Herstellungsablauf digitaler Schaltungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer entworfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufgabenstellung gilt gleichermaßen für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei größeren integrierten Schaltungen fast zwangsläufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test häufig nicht oder nur mit größeren Schwierigkeiten durchzuführen ist. Das liegt an der "Zugänglichkeit" integrierter Schaltungen, die durch die Anzahl externer Anschlüsse beschränkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum angeordnet, d.h. daß die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ansätze, die von hierarchisch höheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das für die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch für den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexität der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, daß man hierarchische Methoden für deren Prüfung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prüfen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung | ||
| 650 | 4 | |a Engineering | |
| 650 | 4 | |a Engineering, general | |
| 650 | 4 | |a Ingenieurwissenschaften | |
| 650 | 0 | 7 | |a Prüftechnik |0 (DE-588)4047610-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Test |0 (DE-588)4059549-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Digitalschaltung |0 (DE-588)4012295-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Prüfung |0 (DE-588)4047609-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Testen |0 (DE-588)4367264-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Testbarkeit |0 (DE-588)4271826-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 689 | 0 | 0 | |a Digitalschaltung |0 (DE-588)4012295-5 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Testen |0 (DE-588)4367264-4 |D s |
| 689 | 0 | |8 1\p |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Digitalschaltung |0 (DE-588)4012295-5 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Prüfung |0 (DE-588)4047609-1 |D s |
| 689 | 1 | |8 2\p |5 DE-604 | |
| 689 | 2 | 0 | |a Digitalschaltung |0 (DE-588)4012295-5 |D s |
| 689 | 2 | 1 | |a Testbarkeit |0 (DE-588)4271826-0 |D s |
| 689 | 2 | |8 3\p |5 DE-604 | |
| 689 | 3 | 0 | |a Digitalschaltung |0 (DE-588)4012295-5 |D s |
| 689 | 3 | 1 | |a Test |0 (DE-588)4059549-3 |D s |
| 689 | 3 | |8 4\p |5 DE-604 | |
| 689 | 4 | 0 | |a Digitalschaltung |0 (DE-588)4012295-5 |D s |
| 689 | 4 | 1 | |a Prüftechnik |0 (DE-588)4047610-8 |D s |
| 689 | 4 | |8 5\p |5 DE-604 | |
| 856 | 4 | 0 | |u https://doi.org/10.1007/978-3-322-96665-0 |x Verlag |3 Volltext |
| 912 | |a ZDB-2-STI |a ZDB-2-BAD | ||
| 940 | 1 | |q ZDB-2-STI_Archive | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027866466 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 2\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 3\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 4\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 5\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804153113870860288 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Wojtkowiak, Hans |
| author_facet | Wojtkowiak, Hans |
| author_role | aut |
| author_sort | Wojtkowiak, Hans |
| author_variant | h w hw |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV042431135 |
| classification_tum | TEC 000 DAT 000 |
| collection | ZDB-2-STI ZDB-2-BAD |
| ctrlnum | (OCoLC)863869459 (DE-599)BVBBV042431135 |
| dewey-full | 620 |
| dewey-hundreds | 600 - Technology (Applied sciences) |
| dewey-ones | 620 - Engineering and allied operations |
| dewey-raw | 620 |
| dewey-search | 620 |
| dewey-sort | 3620 |
| dewey-tens | 620 - Engineering and allied operations |
| discipline | Technik Technik Informatik |
| doi_str_mv | 10.1007/978-3-322-96665-0 |
| format | Electronic eBook |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>04452nmm a2200721zc 4500</leader><controlfield tag="001">BV042431135</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20180214 </controlfield><controlfield tag="007">cr|uuu---uuuuu</controlfield><controlfield tag="008">150320s1988 |||| o||u| ||||||ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783322966650</subfield><subfield code="c">Online</subfield><subfield code="9">978-3-322-96665-0</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783519022633</subfield><subfield code="c">Print</subfield><subfield code="9">978-3-519-02263-3</subfield></datafield><datafield tag="024" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">10.1007/978-3-322-96665-0</subfield><subfield code="2">doi</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)863869459</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV042431135</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">aacr</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-634</subfield><subfield code="a">DE-92</subfield><subfield code="a">DE-573</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield><subfield code="a">DE-1046</subfield><subfield code="a">DE-1047</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">620</subfield><subfield code="2">23</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">TEC 000</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DAT 000</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Wojtkowiak, Hans</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen</subfield><subfield code="c">von Hans Wojtkowiak</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Wiesbaden</subfield><subfield code="b">Vieweg+Teubner Verlag</subfield><subfield code="c">1988</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1 Online-Ressource (229 S.)</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">c</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">cr</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Leitfäden und Monographien der Informatik</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs- und Herstellungsablauf digitaler Schaltungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer entworfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufgabenstellung gilt gleichermaßen für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei größeren integrierten Schaltungen fast zwangsläufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test häufig nicht oder nur mit größeren Schwierigkeiten durchzuführen ist. Das liegt an der "Zugänglichkeit" integrierter Schaltungen, die durch die Anzahl externer Anschlüsse beschränkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum angeordnet, d.h. daß die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ansätze, die von hierarchisch höheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das für die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch für den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexität der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, daß man hierarchische Methoden für deren Prüfung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prüfen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Engineering</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Engineering, general</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Ingenieurwissenschaften</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047610-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Test</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059549-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Digitalschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4012295-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Prüfung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047609-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Testen</subfield><subfield code="0">(DE-588)4367264-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Testbarkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4271826-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Digitalschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4012295-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Testen</subfield><subfield code="0">(DE-588)4367264-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Digitalschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4012295-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Prüfung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047609-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">Digitalschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4012295-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="1"><subfield code="a">Testbarkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4271826-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="0"><subfield code="a">Digitalschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4012295-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="1"><subfield code="a">Test</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059549-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2=" "><subfield code="8">4\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2="0"><subfield code="a">Digitalschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4012295-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2="1"><subfield code="a">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047610-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2=" "><subfield code="8">5\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="0"><subfield code="u">https://doi.org/10.1007/978-3-322-96665-0</subfield><subfield code="x">Verlag</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZDB-2-STI</subfield><subfield code="a">ZDB-2-BAD</subfield></datafield><datafield tag="940" ind1="1" ind2=" "><subfield code="q">ZDB-2-STI_Archive</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027866466</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">4\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">5\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV042431135 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-10T01:21:27Z |
| institution | BVB |
| isbn | 9783322966650 9783519022633 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027866466 |
| oclc_num | 863869459 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-634 DE-92 DE-573 DE-706 DE-1046 DE-1047 |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-634 DE-92 DE-573 DE-706 DE-1046 DE-1047 |
| physical | 1 Online-Ressource (229 S.) |
| psigel | ZDB-2-STI ZDB-2-BAD ZDB-2-STI_Archive |
| publishDate | 1988 |
| publishDateSearch | 1988 |
| publishDateSort | 1988 |
| publisher | Vieweg+Teubner Verlag |
| record_format | marc |
| series2 | Leitfäden und Monographien der Informatik |
| spelling | Wojtkowiak, Hans Verfasser aut Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen von Hans Wojtkowiak Wiesbaden Vieweg+Teubner Verlag 1988 1 Online-Ressource (229 S.) txt rdacontent c rdamedia cr rdacarrier Leitfäden und Monographien der Informatik Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs- und Herstellungsablauf digitaler Schaltungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer entworfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufgabenstellung gilt gleichermaßen für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei größeren integrierten Schaltungen fast zwangsläufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test häufig nicht oder nur mit größeren Schwierigkeiten durchzuführen ist. Das liegt an der "Zugänglichkeit" integrierter Schaltungen, die durch die Anzahl externer Anschlüsse beschränkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum angeordnet, d.h. daß die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ansätze, die von hierarchisch höheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das für die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch für den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexität der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, daß man hierarchische Methoden für deren Prüfung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prüfen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung Engineering Engineering, general Ingenieurwissenschaften Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd rswk-swf Test (DE-588)4059549-3 gnd rswk-swf Digitalschaltung (DE-588)4012295-5 gnd rswk-swf Prüfung (DE-588)4047609-1 gnd rswk-swf Testen (DE-588)4367264-4 gnd rswk-swf Testbarkeit (DE-588)4271826-0 gnd rswk-swf Digitalschaltung (DE-588)4012295-5 s Testen (DE-588)4367264-4 s 1\p DE-604 Prüfung (DE-588)4047609-1 s 2\p DE-604 Testbarkeit (DE-588)4271826-0 s 3\p DE-604 Test (DE-588)4059549-3 s 4\p DE-604 Prüftechnik (DE-588)4047610-8 s 5\p DE-604 https://doi.org/10.1007/978-3-322-96665-0 Verlag Volltext 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 2\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 3\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 4\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 5\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | Wojtkowiak, Hans Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen Engineering Engineering, general Ingenieurwissenschaften Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd Test (DE-588)4059549-3 gnd Digitalschaltung (DE-588)4012295-5 gnd Prüfung (DE-588)4047609-1 gnd Testen (DE-588)4367264-4 gnd Testbarkeit (DE-588)4271826-0 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4047610-8 (DE-588)4059549-3 (DE-588)4012295-5 (DE-588)4047609-1 (DE-588)4367264-4 (DE-588)4271826-0 |
| title | Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen |
| title_auth | Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen |
| title_exact_search | Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen |
| title_full | Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen von Hans Wojtkowiak |
| title_fullStr | Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen von Hans Wojtkowiak |
| title_full_unstemmed | Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen von Hans Wojtkowiak |
| title_short | Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen |
| title_sort | test und testbarkeit digitaler schaltungen |
| topic | Engineering Engineering, general Ingenieurwissenschaften Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd Test (DE-588)4059549-3 gnd Digitalschaltung (DE-588)4012295-5 gnd Prüfung (DE-588)4047609-1 gnd Testen (DE-588)4367264-4 gnd Testbarkeit (DE-588)4271826-0 gnd |
| topic_facet | Engineering Engineering, general Ingenieurwissenschaften Prüftechnik Test Digitalschaltung Prüfung Testen Testbarkeit |
| url | https://doi.org/10.1007/978-3-322-96665-0 |
| work_keys_str_mv | AT wojtkowiakhans testundtestbarkeitdigitalerschaltungen |