Entwurf selbsttestbarer Schaltungen:
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Electronic eBook |
| Language: | German |
| Published: |
Wiesbaden
Vieweg+Teubner Verlag
1998
|
| Series: | TEUBNER-TEXTER zur Informatik
27 |
| Subjects: | |
| Online Access: | Volltext |
| Item Description: | Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, daß alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren. Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so daß der Chip sich autonom, ohne teure externe Geräte testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, daß viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit benötigt |
| Physical Description: | 1 Online-Ressource (322S.) |
| ISBN: | 9783322851642 9783815423141 |
| ISSN: | 1615-4584 |
| DOI: | 10.1007/978-3-322-85164-2 |
Staff View
MARC
| LEADER | 00000nmm a2200000zcb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV042429434 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | cr|uuu---uuuuu | ||
| 008 | 150320s1998 |||| o||u| ||||||ger d | ||
| 020 | |a 9783322851642 |c Online |9 978-3-322-85164-2 | ||
| 020 | |a 9783815423141 |c Print |9 978-3-8154-2314-1 | ||
| 024 | 7 | |a 10.1007/978-3-322-85164-2 |2 doi | |
| 035 | |a (OCoLC)863892599 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV042429434 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e aacr | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-91 |a DE-634 |a DE-92 |a DE-573 |a DE-706 |a DE-860 |a DE-1046 |a DE-Aug4 | ||
| 082 | 0 | |a 620 |2 23 | |
| 084 | |a DAT 000 |2 stub | ||
| 084 | |a TEC 000 |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Ströle, Albrecht P. |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Entwurf selbsttestbarer Schaltungen |c von Albrecht P. Ströle |
| 264 | 1 | |a Wiesbaden |b Vieweg+Teubner Verlag |c 1998 | |
| 300 | |a 1 Online-Ressource (322S.) | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b c |2 rdamedia | ||
| 338 | |b cr |2 rdacarrier | ||
| 490 | 0 | |a TEUBNER-TEXTER zur Informatik |v 27 |x 1615-4584 | |
| 500 | |a Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, daß alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren. Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so daß der Chip sich autonom, ohne teure externe Geräte testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, daß viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit benötigt | ||
| 650 | 4 | |a Engineering | |
| 650 | 4 | |a Engineering, general | |
| 650 | 4 | |a Ingenieurwissenschaften | |
| 650 | 0 | 7 | |a Selbsttest |0 (DE-588)4054433-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Entwurfsautomation |0 (DE-588)4312536-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Mikroprozessor |0 (DE-588)4039232-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Integrierte Schaltung |0 (DE-588)4027242-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |8 1\p |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Integrierte Schaltung |0 (DE-588)4027242-4 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Selbsttest |0 (DE-588)4054433-3 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Entwurfsautomation |0 (DE-588)4312536-0 |D s |
| 689 | 0 | |8 2\p |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Selbsttest |0 (DE-588)4054433-3 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Mikroprozessor |0 (DE-588)4039232-6 |D s |
| 689 | 1 | |8 3\p |5 DE-604 | |
| 856 | 4 | 0 | |u https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2 |x Verlag |3 Volltext |
| 912 | |a ZDB-2-STI |a ZDB-2-BAD | ||
| 940 | 1 | |q ZDB-2-STI_Archive | |
| 940 | 1 | |q ZDB-2-STI_1990/1999 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027864765 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 2\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 3\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
Record in the Search Index
| _version_ | 1804153110251175936 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Ströle, Albrecht P. |
| author_facet | Ströle, Albrecht P. |
| author_role | aut |
| author_sort | Ströle, Albrecht P. |
| author_variant | a p s ap aps |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV042429434 |
| classification_tum | DAT 000 TEC 000 |
| collection | ZDB-2-STI ZDB-2-BAD |
| ctrlnum | (OCoLC)863892599 (DE-599)BVBBV042429434 |
| dewey-full | 620 |
| dewey-hundreds | 600 - Technology (Applied sciences) |
| dewey-ones | 620 - Engineering and allied operations |
| dewey-raw | 620 |
| dewey-search | 620 |
| dewey-sort | 3620 |
| dewey-tens | 620 - Engineering and allied operations |
| discipline | Technik Technik Informatik |
| doi_str_mv | 10.1007/978-3-322-85164-2 |
| format | Electronic eBook |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>03112nmm a2200601zcb4500</leader><controlfield tag="001">BV042429434</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">cr|uuu---uuuuu</controlfield><controlfield tag="008">150320s1998 |||| o||u| ||||||ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783322851642</subfield><subfield code="c">Online</subfield><subfield code="9">978-3-322-85164-2</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783815423141</subfield><subfield code="c">Print</subfield><subfield code="9">978-3-8154-2314-1</subfield></datafield><datafield tag="024" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">10.1007/978-3-322-85164-2</subfield><subfield code="2">doi</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)863892599</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV042429434</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">aacr</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-634</subfield><subfield code="a">DE-92</subfield><subfield code="a">DE-573</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield><subfield code="a">DE-860</subfield><subfield code="a">DE-1046</subfield><subfield code="a">DE-Aug4</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">620</subfield><subfield code="2">23</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DAT 000</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">TEC 000</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Ströle, Albrecht P.</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Entwurf selbsttestbarer Schaltungen</subfield><subfield code="c">von Albrecht P. Ströle</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Wiesbaden</subfield><subfield code="b">Vieweg+Teubner Verlag</subfield><subfield code="c">1998</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1 Online-Ressource (322S.)</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">c</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">cr</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">TEUBNER-TEXTER zur Informatik</subfield><subfield code="v">27</subfield><subfield code="x">1615-4584</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, daß alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren. Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so daß der Chip sich autonom, ohne teure externe Geräte testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, daß viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit benötigt</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Engineering</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Engineering, general</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Ingenieurwissenschaften</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Selbsttest</subfield><subfield code="0">(DE-588)4054433-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Entwurfsautomation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312536-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikroprozessor</subfield><subfield code="0">(DE-588)4039232-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027242-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027242-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Selbsttest</subfield><subfield code="0">(DE-588)4054433-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Entwurfsautomation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312536-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Selbsttest</subfield><subfield code="0">(DE-588)4054433-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Mikroprozessor</subfield><subfield code="0">(DE-588)4039232-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="0"><subfield code="u">https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2</subfield><subfield code="x">Verlag</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZDB-2-STI</subfield><subfield code="a">ZDB-2-BAD</subfield></datafield><datafield tag="940" ind1="1" ind2=" "><subfield code="q">ZDB-2-STI_Archive</subfield></datafield><datafield tag="940" ind1="1" ind2=" "><subfield code="q">ZDB-2-STI_1990/1999</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027864765</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | 1\p (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV042429434 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-10T01:21:24Z |
| institution | BVB |
| isbn | 9783322851642 9783815423141 |
| issn | 1615-4584 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027864765 |
| oclc_num | 863892599 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-634 DE-92 DE-573 DE-706 DE-860 DE-1046 DE-Aug4 |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-634 DE-92 DE-573 DE-706 DE-860 DE-1046 DE-Aug4 |
| physical | 1 Online-Ressource (322S.) |
| psigel | ZDB-2-STI ZDB-2-BAD ZDB-2-STI_Archive ZDB-2-STI_1990/1999 |
| publishDate | 1998 |
| publishDateSearch | 1998 |
| publishDateSort | 1998 |
| publisher | Vieweg+Teubner Verlag |
| record_format | marc |
| series2 | TEUBNER-TEXTER zur Informatik |
| spelling | Ströle, Albrecht P. Verfasser aut Entwurf selbsttestbarer Schaltungen von Albrecht P. Ströle Wiesbaden Vieweg+Teubner Verlag 1998 1 Online-Ressource (322S.) txt rdacontent c rdamedia cr rdacarrier TEUBNER-TEXTER zur Informatik 27 1615-4584 Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, daß alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren. Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so daß der Chip sich autonom, ohne teure externe Geräte testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, daß viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit benötigt Engineering Engineering, general Ingenieurwissenschaften Selbsttest (DE-588)4054433-3 gnd rswk-swf Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 gnd rswk-swf Mikroprozessor (DE-588)4039232-6 gnd rswk-swf Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 gnd rswk-swf 1\p (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 s Selbsttest (DE-588)4054433-3 s Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 s 2\p DE-604 Mikroprozessor (DE-588)4039232-6 s 3\p DE-604 https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2 Verlag Volltext 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 2\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 3\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | Ströle, Albrecht P. Entwurf selbsttestbarer Schaltungen Engineering Engineering, general Ingenieurwissenschaften Selbsttest (DE-588)4054433-3 gnd Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 gnd Mikroprozessor (DE-588)4039232-6 gnd Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4054433-3 (DE-588)4312536-0 (DE-588)4039232-6 (DE-588)4027242-4 (DE-588)4113937-9 |
| title | Entwurf selbsttestbarer Schaltungen |
| title_auth | Entwurf selbsttestbarer Schaltungen |
| title_exact_search | Entwurf selbsttestbarer Schaltungen |
| title_full | Entwurf selbsttestbarer Schaltungen von Albrecht P. Ströle |
| title_fullStr | Entwurf selbsttestbarer Schaltungen von Albrecht P. Ströle |
| title_full_unstemmed | Entwurf selbsttestbarer Schaltungen von Albrecht P. Ströle |
| title_short | Entwurf selbsttestbarer Schaltungen |
| title_sort | entwurf selbsttestbarer schaltungen |
| topic | Engineering Engineering, general Ingenieurwissenschaften Selbsttest (DE-588)4054433-3 gnd Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 gnd Mikroprozessor (DE-588)4039232-6 gnd Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 gnd |
| topic_facet | Engineering Engineering, general Ingenieurwissenschaften Selbsttest Entwurfsautomation Mikroprozessor Integrierte Schaltung Hochschulschrift |
| url | https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2 |
| work_keys_str_mv | AT strolealbrechtp entwurfselbsttestbarerschaltungen |