Conférence Internationale sur Ellipsométrie et Autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces Paris. (1984). Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces: 7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis. Ed. de Physique.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Conférence Internationale sur Ellipsométrie et Autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces Paris. Ellipsométrie Et Autres Méthodes Optiques Pour L'analyse Des Surfaces Et Films Minces: 7 - 10 Juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and Other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis. Les Ulis: Ed. de Physique, 1984.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Conférence Internationale sur Ellipsométrie et Autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces Paris. Ellipsométrie Et Autres Méthodes Optiques Pour L'analyse Des Surfaces Et Films Minces: 7 - 10 Juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and Other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis. Ed. de Physique, 1984.