Machine vision for inspection and measurement:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Boston Academic Press ©1989
Schriftenreihe:Perspectives in computing (Boston, Mass.) vol. 24
Schlagworte:
Online-Zugang:FAW01
Volltext
Beschreibung:Proceedings of the second annual workshop sponsored by the Center for Computer Aids for Industrial Productivity at Rutgers University on Apr. 25-26, 1988
Includes bibliographical references and index
Beschreibung:1 Online-Ressource (x, 320 pages)
ISBN:0122667190
9780122667190

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