Patent- und Gebrauchsmusterverletzung:
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Bibliographic Details
Main Authors: Hahn, Tobias (Author), Richter, Stefan 1979- (Author)
Format: Book
Language:German
Published: Hagen HWV, Hagener Wiss.verl. 2014
Edition:3., überarb. Aufl.
Series:Hagen Law School : Fachanwaltslehrgänge
Subjects:
Physical Description:125 S. 210 mm x 148 mm
ISBN:9783830533573
3830533578

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