Patent- und Gebrauchsmusterverletzung:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Hahn, Tobias (VerfasserIn), Richter, Stefan 1979- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Hagen HWV, Hagener Wiss.verl. 2014
Ausgabe:3., überarb. Aufl.
Schriftenreihe:Hagen Law School : Fachanwaltslehrgänge
Schlagworte:
Beschreibung:125 S. 210 mm x 148 mm
ISBN:9783830533573
3830533578

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