Reliability of microtechnology: interconnects, devices, and systems
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Springer c2011
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:1 Online-Ressource (xiii, 204 p.)
ISBN:9781441957597
1441957596
9781283083461

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