Logistische Testmodelle mit additiven Nebenbedingungen:
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Bibliographic Details
Main Authors: Kempf, Wilhelm (Author), Niehusen, Bernd (Author), Mach, Gerhard (Author)
Format: Book
Language:German
Published: Kiel IPN 1976
Series:Institut für die Pädagogik der Naturwissenschaften <Kiel>: IPN-Arbeitsberichte 22
Subjects:
Physical Description:139 Bl.

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