(1994). Electromigration failure by shape change of voids in bamboo lines. American Inst. of Physics.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Electromigration Failure by Shape Change of Voids in Bamboo Lines. Woodbury, NY: American Inst. of Physics, 1994.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Electromigration Failure by Shape Change of Voids in Bamboo Lines. American Inst. of Physics, 1994.
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