Structural, syntactic, and statistical pattern recognition: joint IAPR international workshop, SSPR & SPR 2012, Hiroshima, Japan, November 7 - 9, 2012 ; proceedings
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin [u.a.] Springer 2012
Schriftenreihe:Lecture notes in computer science 7626
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:XVII, 755 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3642341659
9783642341656

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Beschreibung