Biberger, R. (2012). Entwicklung und Optimierung dynamischer Methoden der Raster-Sonden-Mikroskopie zur Charakterisierung von Halbleiterstrukturen. https://doi.org/10.24405/446
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Biberger, Roland. Entwicklung Und Optimierung Dynamischer Methoden Der Raster-Sonden-Mikroskopie Zur Charakterisierung Von Halbleiterstrukturen. 2012. https://doi.org/10.24405/446.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Biberger, Roland. Entwicklung Und Optimierung Dynamischer Methoden Der Raster-Sonden-Mikroskopie Zur Charakterisierung Von Halbleiterstrukturen. 2012. https://doi.org/10.24405/446.
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