Meiner, K. (2012). Evaluierung verschiedener optischer Schichtdickenmessverfahren im Hinblick auf ihre technische Einsatzfähigkeit für Schichtsysteme der Solarindustrie.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Meiner, Kurt. Evaluierung Verschiedener Optischer Schichtdickenmessverfahren Im Hinblick Auf Ihre Technische Einsatzfähigkeit Für Schichtsysteme Der Solarindustrie. Wildau, 2012.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Meiner, Kurt. Evaluierung Verschiedener Optischer Schichtdickenmessverfahren Im Hinblick Auf Ihre Technische Einsatzfähigkeit Für Schichtsysteme Der Solarindustrie. 2012.
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