Kraftmikroskopie als Werkzeug zur Charakterisierung elektrischer Oberflächeneigenschaften:
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Thesis Book |
| Language: | German |
| Published: |
2011
|
| Subjects: | |
| Online Access: | Volltext |
| Physical Description: | 169 S. graph. Darst. |
Staff View
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV040120985 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20120509 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 120508s2011 d||| m||| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)918517855 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV040120985 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-634 | ||
| 100 | 1 | |a Ratzke, Markus |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Kraftmikroskopie als Werkzeug zur Charakterisierung elektrischer Oberflächeneigenschaften |c vorgelegt von Markus Ratzke |
| 264 | 1 | |c 2011 | |
| 300 | |a 169 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 502 | |a Cottbus, Techn. Univ., Diss., 2011 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Halbleiteroberfläche |0 (DE-588)4137418-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Rasterkraftmikroskopie |0 (DE-588)4274473-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Rasterkraftmikroskopie |0 (DE-588)4274473-8 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Halbleiteroberfläche |0 (DE-588)4137418-6 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 776 | 0 | 8 | |i Erscheint auch als |n Online-Ausgabe |o urn:nbn:de:kobv:co1-opus-24440 |
| 856 | 4 | 1 | |u http://opus.kobv.de/btu/volltexte/2012/2444/ |z kostenfrei |3 Volltext |
| 912 | |a ebook | ||
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-024977082 | ||
Record in the Search Index
| _version_ | 1804149080594579456 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Ratzke, Markus |
| author_facet | Ratzke, Markus |
| author_role | aut |
| author_sort | Ratzke, Markus |
| author_variant | m r mr |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV040120985 |
| collection | ebook |
| ctrlnum | (OCoLC)918517855 (DE-599)BVBBV040120985 |
| format | Thesis Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01294nam a2200361 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV040120985</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20120509 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">120508s2011 d||| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)918517855</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV040120985</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-634</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Ratzke, Markus</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Kraftmikroskopie als Werkzeug zur Charakterisierung elektrischer Oberflächeneigenschaften</subfield><subfield code="c">vorgelegt von Markus Ratzke</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">2011</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">169 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Cottbus, Techn. Univ., Diss., 2011</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleiteroberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4137418-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Rasterkraftmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4274473-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Rasterkraftmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4274473-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Halbleiteroberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4137418-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="0" ind2="8"><subfield code="i">Erscheint auch als</subfield><subfield code="n">Online-Ausgabe</subfield><subfield code="o">urn:nbn:de:kobv:co1-opus-24440</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="1"><subfield code="u">http://opus.kobv.de/btu/volltexte/2012/2444/</subfield><subfield code="z">kostenfrei</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ebook</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-024977082</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV040120985 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-10T00:17:21Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-024977082 |
| oclc_num | 918517855 |
| open_access_boolean | 1 |
| owner | DE-634 |
| owner_facet | DE-634 |
| physical | 169 S. graph. Darst. |
| psigel | ebook |
| publishDate | 2011 |
| publishDateSearch | 2011 |
| publishDateSort | 2011 |
| record_format | marc |
| spelling | Ratzke, Markus Verfasser aut Kraftmikroskopie als Werkzeug zur Charakterisierung elektrischer Oberflächeneigenschaften vorgelegt von Markus Ratzke 2011 169 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Cottbus, Techn. Univ., Diss., 2011 Halbleiteroberfläche (DE-588)4137418-6 gnd rswk-swf Rasterkraftmikroskopie (DE-588)4274473-8 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Rasterkraftmikroskopie (DE-588)4274473-8 s Halbleiteroberfläche (DE-588)4137418-6 s DE-604 Erscheint auch als Online-Ausgabe urn:nbn:de:kobv:co1-opus-24440 http://opus.kobv.de/btu/volltexte/2012/2444/ kostenfrei Volltext |
| spellingShingle | Ratzke, Markus Kraftmikroskopie als Werkzeug zur Charakterisierung elektrischer Oberflächeneigenschaften Halbleiteroberfläche (DE-588)4137418-6 gnd Rasterkraftmikroskopie (DE-588)4274473-8 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4137418-6 (DE-588)4274473-8 (DE-588)4113937-9 |
| title | Kraftmikroskopie als Werkzeug zur Charakterisierung elektrischer Oberflächeneigenschaften |
| title_auth | Kraftmikroskopie als Werkzeug zur Charakterisierung elektrischer Oberflächeneigenschaften |
| title_exact_search | Kraftmikroskopie als Werkzeug zur Charakterisierung elektrischer Oberflächeneigenschaften |
| title_full | Kraftmikroskopie als Werkzeug zur Charakterisierung elektrischer Oberflächeneigenschaften vorgelegt von Markus Ratzke |
| title_fullStr | Kraftmikroskopie als Werkzeug zur Charakterisierung elektrischer Oberflächeneigenschaften vorgelegt von Markus Ratzke |
| title_full_unstemmed | Kraftmikroskopie als Werkzeug zur Charakterisierung elektrischer Oberflächeneigenschaften vorgelegt von Markus Ratzke |
| title_short | Kraftmikroskopie als Werkzeug zur Charakterisierung elektrischer Oberflächeneigenschaften |
| title_sort | kraftmikroskopie als werkzeug zur charakterisierung elektrischer oberflacheneigenschaften |
| topic | Halbleiteroberfläche (DE-588)4137418-6 gnd Rasterkraftmikroskopie (DE-588)4274473-8 gnd |
| topic_facet | Halbleiteroberfläche Rasterkraftmikroskopie Hochschulschrift |
| url | http://opus.kobv.de/btu/volltexte/2012/2444/ |
| work_keys_str_mv | AT ratzkemarkus kraftmikroskopiealswerkzeugzurcharakterisierungelektrischeroberflacheneigenschaften |