(2007). Modeling aspects in optical metrology: 18 - 19 June 2007, Munich, Germany. SPIE.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Modeling Aspects in Optical Metrology: 18 - 19 June 2007, Munich, Germany. Bellingham, Wash: SPIE, 2007.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Modeling Aspects in Optical Metrology: 18 - 19 June 2007, Munich, Germany. SPIE, 2007.
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