Breitschaft, M. (2010). Elektronische Charakterisierung von LaAlO3-SrTiO3-Grenzflächen mittels Rastertunnelspektroskopie.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Breitschaft, Martin. Elektronische Charakterisierung Von LaAlO3-SrTiO3-Grenzflächen Mittels Rastertunnelspektroskopie. 2010.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Breitschaft, Martin. Elektronische Charakterisierung Von LaAlO3-SrTiO3-Grenzflächen Mittels Rastertunnelspektroskopie. 2010.
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