(2008). Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization. Springer-Verlag. https://doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization. Berlin, Heidelberg: Springer-Verlag, 2008. https://doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization. Springer-Verlag, 2008. https://doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4.
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