APA-Zitierstil (7. Ausg.)

(2006). Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces. Springer-Verlag Berlin Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7

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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces. Berlin, Heidelberg: Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2006. https://doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces. Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2006. https://doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7.