(2006). Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents. Springer Science+Business Media, LLC. https://doi.org/10.1007/0-387-37231-8
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents. New York, NY: Springer Science+Business Media, LLC, 2006. https://doi.org/10.1007/0-387-37231-8.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents. Springer Science+Business Media, LLC, 2006. https://doi.org/10.1007/0-387-37231-8.
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