High resolution x-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Pietsch, Ullrich (VerfasserIn), Holý, Václav 1953- (VerfasserIn), Baumbach, Tilo 1961- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY [u.a.] Springer 2004
Ausgabe:2nd. ed.
Schlagworte:
Beschreibung:1. Aufl. u.d.T.: High resolution x-ray scattering from thin films and multilayers
Beschreibung:XVI, 408 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:9780387400921
0387400923

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