Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Abschlussarbeit Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Bamberg
Meisenbach
2009
|
Schriftenreihe: | Fertigungstechnik Erlangen
203 |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext Volltext Volltext Volltext Inhaltsverzeichnis |
Beschreibung: | III, 162 Seiten Illustrationen, Diagramme 210 mm x 147 mm |
ISBN: | 9783875252903 |
DOI: | 10.25593/978-3-87525-290-3 |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV035404821 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 20190617 | ||
007 | t | ||
008 | 090401s2009 a||| m||| 00||| ger d | ||
016 | 7 | |a 993446353 |2 DE-101 | |
020 | |a 9783875252903 |c PB. : EUR 45.00 |9 978-3-87525-290-3 | ||
024 | 3 | |a 9783875252903 | |
035 | |a (OCoLC)430524142 | ||
035 | |a (DE-599)DNB993446353 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rda | ||
041 | 0 | |a ger | |
049 | |a DE-29T |a DE-12 |a DE-22 |a DE-210 |a DE-29 |a DE-83 |a DE-91 | ||
082 | 0 | |a 621.381548 |2 22/ger | |
084 | |a ZG 9270 |0 (DE-625)156055: |2 rvk | ||
084 | |a ZM 9310 |0 (DE-625)157221: |2 rvk | ||
084 | |a ZN 4030 |0 (DE-625)157339: |2 rvk | ||
084 | |a ZN 4120 |0 (DE-625)157353: |2 rvk | ||
084 | |a ZN 4125 |0 (DE-625)157354: |2 rvk | ||
084 | |a 620 |2 sdnb | ||
100 | 1 | |a Schimpf, Claudius |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion |c Claudius Schimpf |
264 | 1 | |a Bamberg |b Meisenbach |c 2009 | |
300 | |a III, 162 Seiten |b Illustrationen, Diagramme |c 210 mm x 147 mm | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a Fertigungstechnik Erlangen |v 203 | |
502 | |b Dissertation |c Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg |d 2009 | ||
650 | 4 | |a Elektroniktechnologie - Elektronische Baugruppe - Verbindungstechnik - Zuverlässigkeit - Prüftechnik - Prozessoptimierung | |
650 | 0 | 7 | |a Prozessoptimierung |0 (DE-588)4176074-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Elektroniktechnologie |0 (DE-588)4402723-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Verbindungstechnik |0 (DE-588)4129183-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Prüftechnik |0 (DE-588)4047610-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Zuverlässigkeit |0 (DE-588)4059245-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Elektronische Baugruppe |0 (DE-588)4014350-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a Elektroniktechnologie |0 (DE-588)4402723-0 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Elektronische Baugruppe |0 (DE-588)4014350-8 |D s |
689 | 0 | 2 | |a Verbindungstechnik |0 (DE-588)4129183-9 |D s |
689 | 0 | 3 | |a Zuverlässigkeit |0 (DE-588)4059245-5 |D s |
689 | 0 | 4 | |a Prüftechnik |0 (DE-588)4047610-8 |D s |
689 | 0 | 5 | |a Prozessoptimierung |0 (DE-588)4176074-8 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
776 | 0 | 8 | |i Erscheint auch als |n Online-Ausgabe |o 10.25593/978-3-87525-290-3 |
830 | 0 | |a Fertigungstechnik Erlangen |v 203 |w (DE-604)BV035417891 |9 203 | |
856 | 4 | 1 | |u https://open.fau.de/handle/openfau/11132 |x Verlag |z kostenfrei |3 Volltext |
856 | 4 | 1 | |u https://doi.org/10.25593/978-3-87525-290-3 |x Resolving-System |z kostenfrei |3 Volltext |
856 | 4 | 1 | |u https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus4-111328 |x Resolving-System |z kostenfrei |3 Volltext |
856 | 4 | 1 | |u http://d-nb.info/1188466909/34 |x Langzeitarchivierung Nationalbibliothek |z kostenfrei |3 Volltext |
856 | 4 | 2 | |m DNB Datenaustausch |q application/pdf |u http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=017325404&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |3 Inhaltsverzeichnis |
912 | |a ebook | ||
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-017325404 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804138834262228992 |
---|---|
adam_text | OPTIMIERUNG VON ZUVERLAESSIGKEITSUNTERSUCHUNGEN, PRUEFABLAEUFEN UND
NACHARBEITSPROZESSEN IN DER ELEKTRONIKPRODUKTION INHALTSVERZEICHNIS 1
EINLEITUNG 1 2 AKTUELLE ENTWICKLUNGEN BEI ZUVERLAESSIGKEITSUNTERSUCHUNGEN
UND NACHARBEITSPROZESSEN 3 2.1 AUSWIRKUNGEN DEZENTRALER EINBAUORTE AUF
ZUVERLAESSIGKEITSUNTERSUCHUNGEN 3 2.2 PRUEFSTRATEGIEN FUER DIE AUFBAU- UND
VERBINDUNGSTECHNIK 6 2.3 TRENDS BEI DER NACHARBEIT VON ELEKTRONISCHEN
BAUGRUPPEN 11 3 GESTALTUNG, DURCHFUEHRUNG UND AUSWERTUNG VON
UNTERSUCHUNGEN MIT BESCHLEUNIGTEN PRUEFVERFAHREN 15 3.1 EINFLUSS VON
SCHABLONEN- UND PADVARIANTEN AUF DEN HERSTELLUNGSPROZESS UND DIE
ZUVERLAESSIGKEIT VON BGA-BAUELEMENTEN 16 3.1.1 TESTVARIANTEN UND-LAYOUT
17 3.1.2 ANALYSE DES HERSTELLUNGSPROZESSES 19 3.1.3 BESCHLEUNIGTE
ALTERUNG MITTELS TEMPERATURSCHOCKBELASTUNG 23 3.1.4 BEWERTUNG DER
ERGEBNISSE 26 3.2 ONLINE-UEBERWACHUNG VON ZUVERLAESSIGKEITSUNTERSUCHUNGEN
27 3.2.1 AUSFALLANALYSE MIT PERMANENTER MESSDATENAUFZEICHNUNG 28 3.2.2
AUFBAU ZUR ERHOEHUNG DER PRUEFLINGSANZAHL 34 3.3 ERWEITERTE AUSWERTUNGEN
VON ZUVERLAESSIGKEITSUNTERSUCHUNGEN 40 3.3.1 WEIBULL-ANALYSE FUER
ELEKTRONISCHE KOMPONENTEN 41 3.3.2 EINFLUSS DES STICHPROBENUMFANGS 46
3.3.3 PROGNOSE BEI LANGZEITUNTERSUCHUNGEN 49 3.4 ZUSAMMENFASSUNG 52 4
ANGEPASSTE PRUEFSCHRITTE UND MESSAUFBAUTEN ZUR ERMITTLUNG DER
ZUVERLAESSIGKEIT 55 4.1 BEDARFSGERECHTE QUALIFIZIERUNG EINES INNOVATIVEN
KONTAKTIERUNGSVERFAHRENS FUE BIBLIOGRAFISCHE INFORMATIONEN
HTTP://D-NB.INFO/993446353 DIGITALISIERT DURCH INHALTSVERZEICHNIS 4.2
ANALYSE DES EINFLUSSES EINER EIGENERWAERMUNG AUF DIE VERBINDUNGSTECHNIK
BEI HOHEN UMGEBUNGSTEMPERATUREN 69 4.2.1 AUFGABENSTELLUNG UND
PRUEFKONZEPT 70 4.2.2 REALISIERUNG EINES PRUEFAUFBAUS FUER DIE ZYKLISCHE
LEISTUNGSEINBRINGUNG.. 72 4.2.3 BESTIMMUNG DER ZUVERLAESSIGKEIT BEI
UNTERSCHIEDLICHEN BELASTUNGS- PROFILEN 76 4.3 ZUSAMMENFASSUNG 83 5
KONZEPTION UND QUALIFIZIERUNG EINES PRUEFVERFAHRENS ZUR BESTIMMUNG DES
EINFLUSSES VON KONDENSATION 85 5.1 AUFTRETEN UND QUANTITATIVE ERFASSUNG
VON BETAUUNG 86 5.1.1 GRUNDLAGEN DER BETAUUNG 87 5.1.2 QUANTITATIVE
MESSUNG VON WASSERMASSEN 88 5.2 ANALYSE DES AUSFALLMECHANISMUS 90 5.2.1
MECHANISMUS DER ELEKTROCHEMISCHEN MIGRATION 92 5.2.2 EINFLUSSFAKTOREN
FUER DAS WACHSTUM VON DENDRITEN 94 5.3 KONZEPTION EINES GEEIGNETEN
PRUEFVERFAHRENS 95 5.3.1 FESTLEGUNG EINES KLIMAKAMMERPROFILS 96 5.3.2
BESTIMMUNG VON BEWERTUNGSKRITERIEN 98 5.3.3 TESTPLATINE UND
EINFLUSSFAKTOREN FUER DIE GRUNDQUALIFIKATION 99 5.4 GRUNDQUALIFIZIERUNG
DES PRUEFVERFAHRENS 101 5.4.1 MESSAUFBAU UND VERSUCHSPLAN 101 5.4.2
EXEMPLARISCHE ERGEBNISSE 102 5.4.3 AUSWERTUNG DER VERSUCHSREIHEN 105 5.5
ZUSAMMENFASSUNG 108 6 INNOVATIVES MESSVERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER
PHASENUEBERGAENGE VON LOT IN DER NACHARBEIT 111 6.1 TEMPERATURPROFILIERUNG
IN PRODUKTION UND NACHARBEIT 112 6.1.1 OPTIMIERUNG DER WAERMEEINBRINGUNG
IM REFLOWLOETPROZESS 112 6.1. INHALTSVERZEICHNIS 6.3.2 VERGLEICH DER
WAERMEEINBRINGUNG UNTERSCHIEDLICHER NACHARBEITS- SYSTEME 124 6.4
EINSATZPOTENTIALE DES MESSVERFAHRENS 127 6.4.1 NACHARBEIT VON
BGA-BAUELEMENTEN 128 6.4.2 ANWENDUNG IM REFERENZPROZESS 130 6.5
ZUSAMMENFASSUNG 132 7 NACHARBEIT VON BAUELEMENTEN AUF FOLIENSCHALTUNGEN
133 7.1 ANALYSE UND KONZEPTENTWICKLUNG FUER DIE NACHARBEIT AUF
BIEGESCHLAFFEN SUBSTRATEN 134 7.1.1 ANALYSE BESTEHENDER
NACHARBEITSKONZEPTE FUER STARRE BAUGRUPPEN 134 7.1.2 KONZEPTENTWICKLUNG
EINER INTEGRIERTEN HANDHABUNGSVORRICHTUNG 135 7.2 AUFBAUALTERNATIVEN FUER
DIE NACHARBEIT VON BGA-BAUELEMENTEN 137 7.2.1 EINSATZ VON
RAPID-TECHNOLOGIEN 138 7.2.2 REALISIERUNG EINER INTEGRIERTEN
HANDHABUNGSVORRICHTUNG 140 7.2.3 ERWEITERUNG EINES VORHANDENEN
SYSTEMKONZEPTS 141 7.3 INBETRIEBNAHME UND EXEMPLARISCHE MESSUNGEN 142
7.3.1 KORRELATION DER TEMPERATURVERLAEUFE 142 7.3.2 ANWENDUNG DES
MESSFAHRENS ZUR BESTIMMUNG DER PHASENUEBERGAENGE .143 7.4 ZUSAMMENFASSUNG
145 8 ZUSAMMENFASSUNG 147 LITERATURVERZEICHNIS 149 SUMMARY 161
|
any_adam_object | 1 |
author | Schimpf, Claudius |
author_facet | Schimpf, Claudius |
author_role | aut |
author_sort | Schimpf, Claudius |
author_variant | c s cs |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV035404821 |
classification_rvk | ZG 9270 ZM 9310 ZN 4030 ZN 4120 ZN 4125 |
collection | ebook |
ctrlnum | (OCoLC)430524142 (DE-599)DNB993446353 |
dewey-full | 621.381548 |
dewey-hundreds | 600 - Technology (Applied sciences) |
dewey-ones | 621 - Applied physics |
dewey-raw | 621.381548 |
dewey-search | 621.381548 |
dewey-sort | 3621.381548 |
dewey-tens | 620 - Engineering and allied operations |
discipline | Maschinenbau / Maschinenwesen Technik Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik Werkstoffwissenschaften / Fertigungstechnik |
doi_str_mv | 10.25593/978-3-87525-290-3 |
format | Thesis Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>03187nam a2200661 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV035404821</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20190617 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">090401s2009 a||| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">993446353</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783875252903</subfield><subfield code="c">PB. : EUR 45.00</subfield><subfield code="9">978-3-87525-290-3</subfield></datafield><datafield tag="024" ind1="3" ind2=" "><subfield code="a">9783875252903</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)430524142</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)DNB993446353</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rda</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-22</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield><subfield code="a">DE-29</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-91</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">621.381548</subfield><subfield code="2">22/ger</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZG 9270</subfield><subfield code="0">(DE-625)156055:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZM 9310</subfield><subfield code="0">(DE-625)157221:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4030</subfield><subfield code="0">(DE-625)157339:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4120</subfield><subfield code="0">(DE-625)157353:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4125</subfield><subfield code="0">(DE-625)157354:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">620</subfield><subfield code="2">sdnb</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Schimpf, Claudius</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion</subfield><subfield code="c">Claudius Schimpf</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Bamberg</subfield><subfield code="b">Meisenbach</subfield><subfield code="c">2009</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">III, 162 Seiten</subfield><subfield code="b">Illustrationen, Diagramme</subfield><subfield code="c">210 mm x 147 mm</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Fertigungstechnik Erlangen</subfield><subfield code="v">203</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">Dissertation</subfield><subfield code="c">Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg</subfield><subfield code="d">2009</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Elektroniktechnologie - Elektronische Baugruppe - Verbindungstechnik - Zuverlässigkeit - Prüftechnik - Prozessoptimierung</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Prozessoptimierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4176074-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektroniktechnologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4402723-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Verbindungstechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4129183-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047610-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Zuverlässigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059245-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektronische Baugruppe</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014350-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Elektroniktechnologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4402723-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Elektronische Baugruppe</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014350-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Verbindungstechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4129183-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Zuverlässigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059245-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047610-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="5"><subfield code="a">Prozessoptimierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4176074-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="0" ind2="8"><subfield code="i">Erscheint auch als</subfield><subfield code="n">Online-Ausgabe</subfield><subfield code="o">10.25593/978-3-87525-290-3</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Fertigungstechnik Erlangen</subfield><subfield code="v">203</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV035417891</subfield><subfield code="9">203</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="1"><subfield code="u">https://open.fau.de/handle/openfau/11132</subfield><subfield code="x">Verlag</subfield><subfield code="z">kostenfrei</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="1"><subfield code="u">https://doi.org/10.25593/978-3-87525-290-3</subfield><subfield code="x">Resolving-System</subfield><subfield code="z">kostenfrei</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="1"><subfield code="u">https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus4-111328</subfield><subfield code="x">Resolving-System</subfield><subfield code="z">kostenfrei</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="1"><subfield code="u">http://d-nb.info/1188466909/34</subfield><subfield code="x">Langzeitarchivierung Nationalbibliothek</subfield><subfield code="z">kostenfrei</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">DNB Datenaustausch</subfield><subfield code="q">application/pdf</subfield><subfield code="u">http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=017325404&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA</subfield><subfield code="3">Inhaltsverzeichnis</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ebook</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-017325404</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV035404821 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T21:34:29Z |
institution | BVB |
isbn | 9783875252903 |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-017325404 |
oclc_num | 430524142 |
open_access_boolean | 1 |
owner | DE-29T DE-12 DE-22 DE-BY-UBG DE-210 DE-29 DE-83 DE-91 DE-BY-TUM |
owner_facet | DE-29T DE-12 DE-22 DE-BY-UBG DE-210 DE-29 DE-83 DE-91 DE-BY-TUM |
physical | III, 162 Seiten Illustrationen, Diagramme 210 mm x 147 mm |
psigel | ebook |
publishDate | 2009 |
publishDateSearch | 2009 |
publishDateSort | 2009 |
publisher | Meisenbach |
record_format | marc |
series | Fertigungstechnik Erlangen |
series2 | Fertigungstechnik Erlangen |
spelling | Schimpf, Claudius Verfasser aut Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion Claudius Schimpf Bamberg Meisenbach 2009 III, 162 Seiten Illustrationen, Diagramme 210 mm x 147 mm txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Fertigungstechnik Erlangen 203 Dissertation Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg 2009 Elektroniktechnologie - Elektronische Baugruppe - Verbindungstechnik - Zuverlässigkeit - Prüftechnik - Prozessoptimierung Prozessoptimierung (DE-588)4176074-8 gnd rswk-swf Elektroniktechnologie (DE-588)4402723-0 gnd rswk-swf Verbindungstechnik (DE-588)4129183-9 gnd rswk-swf Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd rswk-swf Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd rswk-swf Elektronische Baugruppe (DE-588)4014350-8 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Elektroniktechnologie (DE-588)4402723-0 s Elektronische Baugruppe (DE-588)4014350-8 s Verbindungstechnik (DE-588)4129183-9 s Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 s Prüftechnik (DE-588)4047610-8 s Prozessoptimierung (DE-588)4176074-8 s DE-604 Erscheint auch als Online-Ausgabe 10.25593/978-3-87525-290-3 Fertigungstechnik Erlangen 203 (DE-604)BV035417891 203 https://open.fau.de/handle/openfau/11132 Verlag kostenfrei Volltext https://doi.org/10.25593/978-3-87525-290-3 Resolving-System kostenfrei Volltext https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus4-111328 Resolving-System kostenfrei Volltext http://d-nb.info/1188466909/34 Langzeitarchivierung Nationalbibliothek kostenfrei Volltext DNB Datenaustausch application/pdf http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=017325404&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA Inhaltsverzeichnis |
spellingShingle | Schimpf, Claudius Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion Fertigungstechnik Erlangen Elektroniktechnologie - Elektronische Baugruppe - Verbindungstechnik - Zuverlässigkeit - Prüftechnik - Prozessoptimierung Prozessoptimierung (DE-588)4176074-8 gnd Elektroniktechnologie (DE-588)4402723-0 gnd Verbindungstechnik (DE-588)4129183-9 gnd Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd Elektronische Baugruppe (DE-588)4014350-8 gnd |
subject_GND | (DE-588)4176074-8 (DE-588)4402723-0 (DE-588)4129183-9 (DE-588)4047610-8 (DE-588)4059245-5 (DE-588)4014350-8 (DE-588)4113937-9 |
title | Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion |
title_auth | Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion |
title_exact_search | Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion |
title_full | Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion Claudius Schimpf |
title_fullStr | Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion Claudius Schimpf |
title_full_unstemmed | Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion Claudius Schimpf |
title_short | Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion |
title_sort | optimierung von zuverlassigkeitsuntersuchungen prufablaufen und nacharbeitsprozessen in der elektronikproduktion |
topic | Elektroniktechnologie - Elektronische Baugruppe - Verbindungstechnik - Zuverlässigkeit - Prüftechnik - Prozessoptimierung Prozessoptimierung (DE-588)4176074-8 gnd Elektroniktechnologie (DE-588)4402723-0 gnd Verbindungstechnik (DE-588)4129183-9 gnd Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd Elektronische Baugruppe (DE-588)4014350-8 gnd |
topic_facet | Elektroniktechnologie - Elektronische Baugruppe - Verbindungstechnik - Zuverlässigkeit - Prüftechnik - Prozessoptimierung Prozessoptimierung Elektroniktechnologie Verbindungstechnik Prüftechnik Zuverlässigkeit Elektronische Baugruppe Hochschulschrift |
url | https://open.fau.de/handle/openfau/11132 https://doi.org/10.25593/978-3-87525-290-3 https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus4-111328 http://d-nb.info/1188466909/34 http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=017325404&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |
volume_link | (DE-604)BV035417891 |
work_keys_str_mv | AT schimpfclaudius optimierungvonzuverlassigkeitsuntersuchungenprufablaufenundnacharbeitsprozesseninderelektronikproduktion |