Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schimpf, Claudius (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Bamberg Meisenbach 2009
Schriftenreihe:Fertigungstechnik Erlangen 203
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Volltext
Volltext
Volltext
Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:III, 162 Seiten Illustrationen, Diagramme 210 mm x 147 mm
ISBN:9783875252903
DOI:10.25593/978-3-87525-290-3

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Volltext öffnen