(2008). Eignungsnachweis von Messsystemen (3., aktualisierte Aufl.). Hanser.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Eignungsnachweis Von Messsystemen. 3., aktualisierte Aufl. München: Hanser, 2008.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Eignungsnachweis Von Messsystemen. 3., aktualisierte Aufl. Hanser, 2008.
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