Untersuchungen von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Düsseldorf
VDI-Verl.
1990
|
| Schriftenreihe: | Fortschritt-Berichte der VDI Zeitschriften
5.201 |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 136 S. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV027475061 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20211021 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 120719s1990 m||| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)918303460 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV027475061 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rak | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-B1550 | ||
| 100 | 1 | |a Im, Sung-Woo |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Untersuchungen von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie |c Sung-Woo Im |
| 264 | 1 | |a Düsseldorf |b VDI-Verl. |c 1990 | |
| 300 | |a 136 S. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a Fortschritt-Berichte der VDI Zeitschriften |v 5.201 | |
| 650 | 0 | 7 | |a Mikroriss |0 (DE-588)4169847-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Dynamische Belastung |0 (DE-588)4121153-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Laserinterferometrie |0 (DE-588)4166807-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |8 1\p |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Mikroriss |0 (DE-588)4169847-2 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Dynamische Belastung |0 (DE-588)4121153-4 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Laserinterferometrie |0 (DE-588)4166807-8 |D s |
| 689 | 0 | |8 2\p |5 DE-604 | |
| 830 | 0 | |a Fortschritt-Berichte der VDI Zeitschriften |v 5.201 |w (DE-604)BV000016442 |9 201 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-025601776 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 2\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804149906645975040 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Im, Sung-Woo |
| author_facet | Im, Sung-Woo |
| author_role | aut |
| author_sort | Im, Sung-Woo |
| author_variant | s w i swi |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV027475061 |
| ctrlnum | (OCoLC)918303460 (DE-599)BVBBV027475061 |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01480nam a2200385 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV027475061</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20211021 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">120719s1990 m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)918303460</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV027475061</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rak</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-B1550</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Im, Sung-Woo</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Untersuchungen von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie</subfield><subfield code="c">Sung-Woo Im</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Düsseldorf</subfield><subfield code="b">VDI-Verl.</subfield><subfield code="c">1990</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">136 S.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Fortschritt-Berichte der VDI Zeitschriften</subfield><subfield code="v">5.201</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikroriss</subfield><subfield code="0">(DE-588)4169847-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Dynamische Belastung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4121153-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Laserinterferometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4166807-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Mikroriss</subfield><subfield code="0">(DE-588)4169847-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Dynamische Belastung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4121153-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Laserinterferometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4166807-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Fortschritt-Berichte der VDI Zeitschriften</subfield><subfield code="v">5.201</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV000016442</subfield><subfield code="9">201</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-025601776</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | 1\p (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV027475061 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-10T00:30:28Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-025601776 |
| oclc_num | 918303460 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-B1550 |
| owner_facet | DE-B1550 |
| physical | 136 S. |
| publishDate | 1990 |
| publishDateSearch | 1990 |
| publishDateSort | 1990 |
| publisher | VDI-Verl. |
| record_format | marc |
| series | Fortschritt-Berichte der VDI Zeitschriften |
| series2 | Fortschritt-Berichte der VDI Zeitschriften |
| spelling | Im, Sung-Woo Verfasser aut Untersuchungen von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie Sung-Woo Im Düsseldorf VDI-Verl. 1990 136 S. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Fortschritt-Berichte der VDI Zeitschriften 5.201 Mikroriss (DE-588)4169847-2 gnd rswk-swf Dynamische Belastung (DE-588)4121153-4 gnd rswk-swf Laserinterferometrie (DE-588)4166807-8 gnd rswk-swf 1\p (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Mikroriss (DE-588)4169847-2 s Dynamische Belastung (DE-588)4121153-4 s Laserinterferometrie (DE-588)4166807-8 s 2\p DE-604 Fortschritt-Berichte der VDI Zeitschriften 5.201 (DE-604)BV000016442 201 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 2\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | Im, Sung-Woo Untersuchungen von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie Fortschritt-Berichte der VDI Zeitschriften Mikroriss (DE-588)4169847-2 gnd Dynamische Belastung (DE-588)4121153-4 gnd Laserinterferometrie (DE-588)4166807-8 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4169847-2 (DE-588)4121153-4 (DE-588)4166807-8 (DE-588)4113937-9 |
| title | Untersuchungen von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie |
| title_auth | Untersuchungen von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie |
| title_exact_search | Untersuchungen von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie |
| title_full | Untersuchungen von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie Sung-Woo Im |
| title_fullStr | Untersuchungen von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie Sung-Woo Im |
| title_full_unstemmed | Untersuchungen von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie Sung-Woo Im |
| title_short | Untersuchungen von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie |
| title_sort | untersuchungen von mikrorissen bei wechselbeanspruchung durch laserinterferometrie |
| topic | Mikroriss (DE-588)4169847-2 gnd Dynamische Belastung (DE-588)4121153-4 gnd Laserinterferometrie (DE-588)4166807-8 gnd |
| topic_facet | Mikroriss Dynamische Belastung Laserinterferometrie Hochschulschrift |
| volume_link | (DE-604)BV000016442 |
| work_keys_str_mv | AT imsungwoo untersuchungenvonmikrorissenbeiwechselbeanspruchungdurchlaserinterferometrie |