Vertrauen in Wirtschaftsprüfer: konzeptioneller Bezugsrahmen für eine realwissenschaftliche Theorie der Erwartungslücke
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Bibliographic Details
Main Author: Bahr, Andreas (Author)
Format: Thesis Book
Language:German
Published: Wiesbaden DUV, Dt. Univ.-Verl. 2003
Edition:1. Aufl.
Series:Gabler Edition Wissenschaft
Subjects:
Physical Description:XXI, 294 S. graph. Darst.
ISBN:3824479095

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