Bünau, G. v., & Klöppel, K. (1981). Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse. Westdt. Verl.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Bünau, Günther von, und Klaus-Dieter Klöppel. Anwendungen Der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in Der Oberflächenanalyse. Opladen: Westdt. Verl, 1981.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Bünau, Günther von, und Klaus-Dieter Klöppel. Anwendungen Der Hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in Der Oberflächenanalyse. Westdt. Verl, 1981.
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