Hochenergie-Photoelektronenspektroskopie und winkelabhängige Röntgenemissionsspektroskopie zur tiefenabhängigen Untersuchung von polykristallinen Cu(In,Ga)Se 2 -Schichten - Mönig, Harry 1971- (2009)
Nebentitel: Hard X-ray photoelectron spectroscopy and angle dependent soft X-ray emission spectroscopy for depth dependent elemental analysis of polycrystalline Cu(In,Ga)Se2 thin films