Theoretische Untersuchung von Vielteilcheneffekten auf Silizium-Halbleiteroberflächen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Eggert, Philipp 1974- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Elektronisch E-Book
Sprache:German
Veröffentlicht: 2005
Schlagworte:
Online-Zugang:lizenzfrei
Beschreibung:Nebentitel: Theoretical study of many particle effects for silicon semiconducting surfaces
Beschreibung:1 Online-Ressource (X, 184 S.) graph. Darst.

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