Darowski, N. (1999). Charakterisierung mesoskopischer Halbleiter-Lateralstrukturen mittels Photolumineszenzspektroskopie und Röntgenbeugung unter streifendem Einfall.
Chicago Style (17th ed.) CitationDarowski, Nora. Charakterisierung Mesoskopischer Halbleiter-Lateralstrukturen Mittels Photolumineszenzspektroskopie Und Röntgenbeugung Unter Streifendem Einfall. 1999.
MLA (9th ed.) CitationDarowski, Nora. Charakterisierung Mesoskopischer Halbleiter-Lateralstrukturen Mittels Photolumineszenzspektroskopie Und Röntgenbeugung Unter Streifendem Einfall. 1999.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.