APA (7th ed.) Citation

Darowski, N. (1999). Charakterisierung mesoskopischer Halbleiter-Lateralstrukturen mittels Photolumineszenzspektroskopie und Röntgenbeugung unter streifendem Einfall.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Darowski, Nora. Charakterisierung Mesoskopischer Halbleiter-Lateralstrukturen Mittels Photolumineszenzspektroskopie Und Röntgenbeugung Unter Streifendem Einfall. 1999.

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Darowski, Nora. Charakterisierung Mesoskopischer Halbleiter-Lateralstrukturen Mittels Photolumineszenzspektroskopie Und Röntgenbeugung Unter Streifendem Einfall. 1999.

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