Charge carrier traps in irradiated dielectrics:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Fleming, R. J. (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Oxford [u.a.] Pergamon Press 1990
Schriftenreihe:Radiation physics and chemistry 36,1
Beschreibung:68 S. graph. Darst.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!