Feinstruktur-Spektroskopie an Ni-Ionen in II-VI-Halbleitern: ein neuartiges Verfahren zur Ermittlung der Elektron-Phonon-Wechselwirkung in dotierten Festkörpern
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Bibliographic Details
Main Author: Hoffmann, Axel (Author)
Format: Thesis Book
Language:Undetermined
Published: Berlin 1985
Subjects:
Physical Description:168 S.

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