Hoffmann, A. (1985). Feinstruktur-Spektroskopie an Ni-Ionen in II-VI-Halbleitern: Ein neuartiges Verfahren zur Ermittlung der Elektron-Phonon-Wechselwirkung in dotierten Festkörpern.
Chicago Style (17th ed.) CitationHoffmann, Axel. Feinstruktur-Spektroskopie an Ni-Ionen in II-VI-Halbleitern: Ein Neuartiges Verfahren Zur Ermittlung Der Elektron-Phonon-Wechselwirkung in Dotierten Festkörpern. Berlin, 1985.
MLA (9th ed.) CitationHoffmann, Axel. Feinstruktur-Spektroskopie an Ni-Ionen in II-VI-Halbleitern: Ein Neuartiges Verfahren Zur Ermittlung Der Elektron-Phonon-Wechselwirkung in Dotierten Festkörpern. 1985.
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