Automatische Mess- und Prüftechnik:
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| Format: | Book |
| Language: | German |
| Published: |
Berlin
Verlag Technik
1987
|
| Edition: | 1. Aufl. |
| Series: | Messtechnik
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| Online Access: | Inhaltsverzeichnis |
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|---|---|
| adam_text | INHALT
1. EINFUEHRUNG 9
1.1. AUTOMATISCHE
MESS-UND
PRUEFTECHNIK 9
1.2. GRUNDKONFIGURATION
VON
MESS-UND
PRUEFSYSTEMEN 11
1.3. BEGRIFFE UND
DEFINITIONEN 14
1.4. TECHNOLOGISCHE UND
OEKONOMISCHE BEDINGUNGEN 16
1.4.1. TECHNOLOGISCHE BEDINGUNGEN 16
1.4.2. EINGLIEDERUNG VON MESS- UND PRUEFSCHRITTEN IN DEN FERTIGUNGSPROZESS,
PRUEFSTRATEGIE 22
1.4.3. PRUEFKOSTEN 26
2. PRUEF- UND MESSTECHNISCHE
GRUNDLAGEN 30
2.1. GRUNDVORAUSSETZANGEN 30
2.1.1. MATHEMATISCHE
FORMULIERUNG
DER
MESS-UND
PRUEFAUFGABE 30
2.1.2. ERFASSUNG DER
FUNKTIONSGRUPPENSTRUKTUR 33
2.1.3. GRUNDMODELL DER
FEHLERERKENNUNG UND
-DIAGNOSE 34
2.2. TESTBEWERTUNG
UND
TESTFOLGEOPTIMIERUNG 36
2.2.1. ERFASSUNG
VON
TEST-UND
FEHLEREIGENSCHAFTEN 36
2.2.2. TESTINFORMATION, TESTBEWERTUNG 42
2.2.3. TESTFOLGEN, TESTFOLGEOPTIMIERUNG 43
2.2.4. TESTWERTE, OPTIMALE
TESTSCHRITTZAHL 53
2.3. PRUEFSCHRITTGENERIERUNG, TESTGENERIERUNG 55
2.3.1. GRUNDALGORITHMUS ZUR
TESTERMITTLUNG 56
2.3.2. VERFAHREN
KOMPONENTENPRUEFUNG * FUNKTIONSPRUEFUNG * STRUKTURPRUEFUNG ... 57
2.3.3. BEISPIELE 62
2.4. MASSNAHMEN
ZUR
PRUEFFREUNDLICHEN
SYSTEMGESTALTUNG 76
2.4.1. KONSTRUKTIVE GESTALTUNG 76
2.4.2. SCHALTUNGSTECHNISCHE MASSNAHMEN 77
2.4.3. INFORMATIONELLE FESTLEGUNGEN 80
2.4.4. DOKUMENTATION 80
2.5. MESSWERTGEWINNUNG
UND-VERARBEITUNG
81
2.5.1. SIGNALABTASTUNG 81
2.5.2. MESSWERTVERARBEITUNG, TESTWERTVERARBEITUNG 84
3. SOFTWAREGRUNDLAGEN 94
3.1. TREND, UMFANG * 94
3.2. BETRIEBSSYSTEM, BEDIENERFUEHRUNG 97
3.3. MESS- UND
PRUEFPROGRAMM 102
3.4. MESSWERTVERARBEITUNGSALGORITHMEN 105
3.5. SYSTEMPROGRAMMIERUNG 107
3.5.1. SYSTEMORIENTIERTE PROGRAMMIERUNG
(VARIANTE 1) 108
3.5.2. PINORIENTIERTE PROGRAMMIERUNG (VARIANTE
2) 109
3.5.3. MESSSCHALTUNGSORIENTIERTE
PROGRAMMIERUNG
(VARIANTE 3) 110
3.5.4. SPEICHERPLATZBEDARF 111
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8
INHALT
4. INTERFACESYSTEME DER AUTOMATISCHEN MESS- UND PRUEFTECHNIK 112
4.1. SYSTEMSTRUKTUR 112
4.2. INTERFACESYSTEME 114
4.2.1. GRUNDSAETZLICHER INHALT 114
4.2.2. GRUNDSTRUKTUREN 116
4.3. BUSSYSTEME, INTERFACESYSTEME 118
4.4. AUSGEWAEHLTE INTERFACESYSTEME 119
4.4.1. KETTENINTERFACE
(SI 1.2, IMS-1) 119
4.4.2. BYTESERIELLES-BITPARALLELES INTERFACE
(IBC 625, IEEE
488,) IMS-2 . . 121
4.4.3. CAMAC 129
4.4.4. WEITERE INTERFACESYSTEME 132
4.5. ATE-NETZE 133
4.6. STOERBEEINFLUSSUNG AUF
LEITUNGEN
UND
VON
SYSTEMEN 134
4.6.1. CHARAKTERISIERUNG 134
4.6.2. STOERBEEINFLUSSUNG AUF
LEITUNGEN 136
4.6.3. SYSTEMINTERNE STOERUNGEN 138
4.6.4. ELEKTROMAGNETISCHE STOERUNGEN 139
4.7. SCHLUSSBEMERKUNGEN, TREND 139
5. SYSTEMKOMPONENTEN 141
5.1. RECHNER, STEUEREINHEIT 141
5.2. KOPPELFELD, ADAPTER 143
ANSCHLUSSSORTIERUNG - SAMMELSCHIENENPRINZIP - ADAPTERPLATTE -
JLOEHFREQUENZKOPPELFEKI-
ADAPTER
5.3. STIMULI 156
5.3.1. REFERENZSIGNALQUELLEN, DAU 156
5.3.2. SIGNALGENERATOREN 158
FUNKTIONSGENERATORPRINZIP - MUTTERGENERATORPRINZIP -
SIGNALSYNTHESEPRINZIP - SPEICHER
GENERATORPRINZIP - SOFTWARE-SIGNALGENERIERUNG
5.3.3. VERSORGUNGSQUELLEN, ELEKTRONISCHE
LAST 169
5.4. MESSKREISE 174
5.4.1. DEFINITION, SYSTEMATIK 174
5.4.2. MESSKREISVARIANTEN 175
5.4.2.1. PASSIVE MESSKREISE 175
5.4.2.2. AKTIVE MESSKREISE 176
ANALOGE MESSKREISE - DIGITALE MESSKREISE - INFORMATIONSFLUSSSENSIBLE
-MESSKREISE - ABTAST
KREISE, ABTASTHALTEKREISE
5.5. MESSSYSTEME 186
5.5.1. KOMPARATOR 186
5.5.2. ZAEHLER 187
5.5.3. ANALOG-DIGITAL-UMSETZER, DIGITALVOLTMETER 189
5.5.4. ZUSAMMENFASSUNG 194
6. SYSTEMBEISPIELE 195
6.1. LOGIKANALYSATOR 195
LOGIK-ZEIT-ANALYSE - LOGIK-ZUSTANDS-ANALYSE - STOERSIGNALANALYSE
6.2. SYSTEMBEISPIELE ZUR PRUEFUNG VON
LEITERKARTEN UND
INTEGRIERTEN SCHALT
KREISEN 200
6.3. MESSWERTERFASSUNGSSYSTEM 207
6.4. TECHNISCHES DIAGNOSESYSTEM 209
7. SCHLUSSBEMERKUNGEN 212
LITERATURVERZEICHNIS 213
SACHWOERTERVERZEICHNIS 217
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