Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Genzel, Christoph (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1999
Schlagworte:
Beschreibung:IV, 232 S. Ill., graph. Darst.

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