Hecht, D. (1989). Sekundärelektronen-Feldemission, ein neuartiges Verfahren zur Haftstellen-Spektroskopie in Isolatorschichten.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hecht, Dirk. Sekundärelektronen-Feldemission, Ein Neuartiges Verfahren Zur Haftstellen-Spektroskopie in Isolatorschichten. 1989.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hecht, Dirk. Sekundärelektronen-Feldemission, Ein Neuartiges Verfahren Zur Haftstellen-Spektroskopie in Isolatorschichten. 1989.
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