Scheer, S. (1994). Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht (53. Aufl., Ausg. 1994.). Scheer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Scheer, Stefan. Internationales Patent-, Muster- Und Warenzeichen-Recht. 53. Aufl., Ausg. 1994. Hürth: Scheer, 1994.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Scheer, Stefan. Internationales Patent-, Muster- Und Warenzeichen-Recht. 53. Aufl., Ausg. 1994. Scheer, 1994.
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